외부 커패시터의 누출이 문제입니다. 모든 레귤레이터의 입력 및 출력 커패시터는 I_Q를 높입니다. 그림 19는 외부 커패시터의 누출을 평가하는 훌륭한 방법을 설명합니다. 여기서 전압 드룹은 다양한 커패시터 절연 저항(Rp) 사양에 대해 시간 경과에 따라 커패시터에서 측정한 것입니다.그림 19 데이터 시트의 내용과 무관하게 커패시터의 누출을 측정하는 것이 좋습니다. 기지의 전압으로 커패시터를 충전하고 시간 경과에 따른 전압 강하를 모니터링하는 것은 다양한 커패시터 옵션을 정량화하고 비교하기에 매우 좋은 방법입니다. 절연 저항이 가장 큰 커패시터는 시간이 지남에 따라 전압 드룹이 가장 적은 것으로 나타납니다.

커패시터 누출 외에도 전압계의 입력 임피던스는 저 I_Q 측정 설정에서 중요한 역할을 할 수 있으며 잘못된 결과를 초래할 수 있습니다. 전력 레귤레이터의 입력 또는 출력에 배치된 일반적인 10MΩ 임피던스 전압계는 5V 전원 공급 또는 출력 전압의 경우 500nA를 기여합니다. 이 외부 누출은 TPS7A02 LDO에 대한 25nA I_Q의 내부 자가 소비 I_Q보다 20배 더 많습니다.

올바른 측정 방법과 전압 및 전류 계측기의 올바른 배치로 측정 오류를 방지할 수 있습니다. 그림 20 은(는) 다양한 테스트 설정에서 효율성에 미치는 영향을 보여주며, 이는 이미 0.1mA 부하보다 상당히 낮아진 것입니다. 초저 I_Q 측정에 대한 설정 문제를 방지하기 위한 최상의 옵션에 대한 팁은 아날로그 디자인 학술지의 초저 I_Q 장치의 효율성을 정확하게 측정 기고문을 참조하십시오.