NESY036B September 2021 – April 2023 BQ25125 , LM5123-Q1 , LMR43610 , LMR43610-Q1 , LMR43620 , LMR43620-Q1 , TPS22916 , TPS3840 , TPS62840 , TPS63900 , TPS7A02
解決其他雜訊問題
除了切換雜訊外，持續出現本身雜訊和 0.1Hz 至 100kHz 範圍的熱及閃爍雜訊元件都是低 IQ 偏壓下出現的問題。由於參考通常是造成雜訊的最主要來源，若能選擇取樣保持技術的整合版本來建立電壓和電流參考，將可在裝置壽命中提供優異的面積、雜訊、IQ 和穩定性能 (無漂移) 取捨結果。取樣保持電路的缺點是會產生一些漣波誤差。
圖 13 說明使用 TI 精密數位類比轉換器 (DAC) 和運算放大器系列的設計，嘗試提供最佳取樣保持作業，以確保產生的干擾都會在相關穩壓器的雜訊底線內。我們運用部分前述技術，來移除 TPS7A02 LDO 設計中的干擾與非必要音調。
圖 13 離散式取樣保持 DAC 系統。如 圖 14 所示，TPS7A02 裝置的取樣保持雜訊塑形可將 10 到 100Hz 頻帶下的整合雜訊減少 >40% 以上。
圖 14 有無取樣保持參考的 TPS7A02 雜訊頻譜。(來源:
TPS7A02 的 TI 內部矽量測結果)。