NESY036B September   2021  – April 2023 BQ25125 , LM5123-Q1 , LMR43610 , LMR43610-Q1 , LMR43620 , LMR43620-Q1 , TPS22916 , TPS3840 , TPS62840 , TPS63900 , TPS7A02

 

  1.   1
  2.   概覽
  3.   摘要
  4.   影響 IQ 的因素
  5.   低 IQ 為何產生新挑戰
    1.     瞬態回應
    2.     漣波
    3.     雜訊
    4.     晶粒尺寸與解決方案面積
    5.     洩漏與低於閾值的操作
  6.   如何打破低 IQ 障礙
    1.     解決瞬態回應問題
    2.     解決切換雜訊問題
    3.     解決其他雜訊問題
    4.     解決晶粒尺寸與解決方案面積問題
    5.     解決洩漏與低於閾值的操作問題
  7.   電氣特性
    1.     18
    2.     避免低 IQ 設計中的潛在系統陷阱
    3.     實現低 IQ 但不犧牲靈活性
    4.     減少外部零組件數以降低汽車應用中的 IQ
    5.     智慧使用或在智慧使用支援低 IQ 的啟用功能,或啟用在系統層級支援低 IQ 的功能
  8.   結論
  9.   低 IQ的重要產品類別

智慧使用或在智慧使用支援低 IQ 的啟用功能,或啟用在系統層級支援低 IQ 的功能

裝置級強化可簡化系統級設計。在 TPS22916 中可看到 60-mΩ,10-nA 洩漏負載開關的智慧啟用功能範例。除了超低洩漏與 IQ 性能外,此裝置也提供開啟開關的智慧方式。ON 接腳通常會有內部下拉電阻器來確保電源開關不會意外開啟,防止控制開關的微控制器進入高阻抗狀態。可惜的是,上拉與下拉電阻器會對系統級 IQ 造成負面影響。

圖 24 所示,如同許多極低 IQ 產品,TPS22916 具有智慧開啟或啟用電路,可在緩啟動後開啟下拉路徑,不再需要使用過去的常開 IQ,但仍可在裝置電源關閉時確保已知低阻抗狀態。

GUID-20210902-SS0I-9H1C-DWBS-KLRJF3HVTG1W-low.gif圖 24 智慧啟用電路可確保 ON 接腳在裝置關閉時能夠擁有低阻抗。