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LF347-N

ACTIVO

Amplificador operacional cuádruple de entrada JFET, entrada a V+, 36 V, 4 MHz y alta velocidad de su

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TL074H ACTIVO Amplificador operacional cuádruple de entrada a V+, 40 V, 5 MHz, tensión de offset de 4 mV y 20 V/µs Wider supply range (4.5 V to 40 V), higher GBW (5.25 MHz), faster slew rate (20 V/us), lower offset voltage (4 mV), lower power (0.9375 mA)
TL084H ACTIVO Amplificador operacional cuádruple de entrada a V+, 40 V, 5.25 MHz, tensión de offset de 4 mV y 20 V Wider supply range (4.5 V to 40 V), higher GBW (5.25 MHz), faster slew rate (20 V/us), lower offset voltage (4 mV), lower power (0.9375 mA)

LF347-N

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Detalles del producto

Number of channels 4 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (max) (V) 36 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (min) (V) 8 Rail-to-rail In to V+ GBW (typ) (MHz) 4 Slew rate (typ) (V/µs) 13 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 5 Iq per channel (typ) (mA) 1.8 Vn at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 20 Rating Catalog Operating temperature range (°C) 0 to 70 Offset drift (typ) (µV/°C) 10 Input bias current (max) (pA) 200 CMRR (typ) (dB) 100 Iout (typ) (A) 0.031 Architecture FET Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 3 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) 0 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 1.5 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -1.5
Number of channels 4 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (max) (V) 36 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (min) (V) 8 Rail-to-rail In to V+ GBW (typ) (MHz) 4 Slew rate (typ) (V/µs) 13 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 5 Iq per channel (typ) (mA) 1.8 Vn at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 20 Rating Catalog Operating temperature range (°C) 0 to 70 Offset drift (typ) (µV/°C) 10 Input bias current (max) (pA) 200 CMRR (typ) (dB) 100 Iout (typ) (A) 0.031 Architecture FET Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 3 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) 0 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 1.5 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -1.5
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6
  • Internally Trimmed Offset Voltage: 5 mV max
  • Low Input Bias Current: 50 pA
  • Low Input Noise Current: 0.01 pA/√Hz
  • Wide Gain Bandwidth: 4 MHz
  • High Slew Rate: 13 V/μs
  • Low Supply Current: 7.2 mA
  • High Input Impedance: 1012Ω
  • Low Total Harmonic Distortion: ≤0.02%
  • Low 1/f Noise Corner: 50 Hz
  • Fast Settling Time to 0.01%: 2 μs

All trademarks are the property of their respective owners.

  • Internally Trimmed Offset Voltage: 5 mV max
  • Low Input Bias Current: 50 pA
  • Low Input Noise Current: 0.01 pA/√Hz
  • Wide Gain Bandwidth: 4 MHz
  • High Slew Rate: 13 V/μs
  • Low Supply Current: 7.2 mA
  • High Input Impedance: 1012Ω
  • Low Total Harmonic Distortion: ≤0.02%
  • Low 1/f Noise Corner: 50 Hz
  • Fast Settling Time to 0.01%: 2 μs

All trademarks are the property of their respective owners.

The LF147 is a low cost, high speed quad JFET input operational amplifier with an internally trimmed input offset voltage (BI-FET II technology). The device requires a low supply current and yet maintains a large gain bandwidth product and a fast slew rate. In addition, well matched high voltage JFET input devices provide very low input bias and offset currents. The LF147 is pin compatible with the standard LM148. This feature allows designers to immediately upgrade the overall performance of existing LF148 and LM124 designs.

The LF147 may be used in applications such as high speed integrators, fast D/A converters, sample-and-hold circuits and many other circuits requiring low input offset voltage, low input bias current, high input impedance, high slew rate and wide bandwidth. The device has low noise and offset voltage drift.

The LF147 is a low cost, high speed quad JFET input operational amplifier with an internally trimmed input offset voltage (BI-FET II technology). The device requires a low supply current and yet maintains a large gain bandwidth product and a fast slew rate. In addition, well matched high voltage JFET input devices provide very low input bias and offset currents. The LF147 is pin compatible with the standard LM148. This feature allows designers to immediately upgrade the overall performance of existing LF148 and LM124 designs.

The LF147 may be used in applications such as high speed integrators, fast D/A converters, sample-and-hold circuits and many other circuits requiring low input offset voltage, low input bias current, high input impedance, high slew rate and wide bandwidth. The device has low noise and offset voltage drift.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet LF147/LF347 Wide Bandwidth Quad JFET Input Operational Amplifiers datasheet (Rev. D) 25 mar 2013
E-book The Signal e-book: A compendium of blog posts on op amp design topics 28 mar 2017
Application note AN-256 Circuitry for Inexpensive Relative Humidity Measurement (Rev. B) 06 may 2013
Application note AN-262 Applying Dual and Quad FET Op Amps (Rev. B) 06 may 2013
Application note AN-301 Signal Conditioning for Sophisticated Transducers (Rev. B) 06 may 2013
Application note AN-263 Sine Wave Generation Techniques (Rev. C) 22 abr 2013
Application note AN-447 Protection Schemes for BI-FET Amplifiers and Switches 02 may 2004
Application note Get More Power Out of Dual or Quad Op-Amps 02 oct 2002

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

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Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
PDIP (N) 14 Ultra Librarian
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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