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CD4013B

アクティブ

CMOS デュアル D タイプ・フリップ・フロップ

製品詳細

Number of channels 2 Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 24 IOL (max) (mA) 6.8 IOH (max) (mA) -6.8 Supply current (max) (µA) 600 Features Balanced outputs, Positive input clamp diode, Standard speed (tpd > 50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
Number of channels 2 Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 24 IOL (max) (mA) 6.8 IOH (max) (mA) -6.8 Supply current (max) (µA) 600 Features Balanced outputs, Positive input clamp diode, Standard speed (tpd > 50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4
  • Asynchronous Set-Reset Capability
  • Static Flip-Flop Operation
  • Medium-Speed Operation: 16 MHz (Typical) Clock Toggle Rate at 10-V Supply
  • Standardized Symmetrical Output Characteristics
  • Maximum Input Current Of 1-µA at 18 V Over Full Package Temperature Range:
    • 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise Margin (Over Full Package Temperature Range):
    • 1 V at VDD = 5 V
    • 2 V at VDD = 10 V
    • 2.5 V at VDD = 15 V
  • Asynchronous Set-Reset Capability
  • Static Flip-Flop Operation
  • Medium-Speed Operation: 16 MHz (Typical) Clock Toggle Rate at 10-V Supply
  • Standardized Symmetrical Output Characteristics
  • Maximum Input Current Of 1-µA at 18 V Over Full Package Temperature Range:
    • 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise Margin (Over Full Package Temperature Range):
    • 1 V at VDD = 5 V
    • 2 V at VDD = 10 V
    • 2.5 V at VDD = 15 V

The CD4013B device consists of two identical, independent data-type flip-flops. Each flip-flop has independent data, set, reset, and clock inputs and Q and Q outputs. These devices can be used for shift register applications, and, by connecting Q output to the data input, for counter and toggle applications. The logic level present at the D input is transferred to the Q output during the positive-going transition of the clock pulse. Setting or resetting is independent of the clock and is accomplished by a high level on the set or reset line, respectively.

The CD4013B types are supplied in 14-pin dual-in-line plastic packages (E suffix), 14-pin small-outline packages (M, MT, M96, and NSR suffixes), and 14-pin thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

The CD4013B device consists of two identical, independent data-type flip-flops. Each flip-flop has independent data, set, reset, and clock inputs and Q and Q outputs. These devices can be used for shift register applications, and, by connecting Q output to the data input, for counter and toggle applications. The logic level present at the D input is transferred to the Q output during the positive-going transition of the clock pulse. Setting or resetting is independent of the clock and is accomplished by a high level on the set or reset line, respectively.

The CD4013B types are supplied in 14-pin dual-in-line plastic packages (E suffix), 14-pin small-outline packages (M, MT, M96, and NSR suffixes), and 14-pin thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
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アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
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設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
PDIP (N) 14 Ultra Librarian
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
SOP (NS) 14 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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