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CD54HC192

アクティブ

ハイスピード CMOS ロジック、プリセット可能、同期型 4 ビット BCD 10 進アップ / ダウン・カウンタ

製品詳細

Function Counter Bits (#) 4 Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode, Presettable Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
Function Counter Bits (#) 4 Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode, Presettable Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
CDIP (J) 16 135.3552 mm² 19.56 x 6.92
  • Synchronous Counting and Asynchronous Loading
  • Two Outputs for N-Bit Cascading
  • Look-Ahead Carry for High-Speed Counting
  • Fanout (Over Temperature Range)
    • Standard Outputs . . . . . . . . . . . . . . . 10 LSTTL Loads
    • Bus Driver Outputs . . . . . . . . . . . . . 15 LSTTL Loads
  • Wide Operating Temperature Range . . . –55°C to 125°C
  • Balanced Propagation Delay and Transition Times
  • Significant Power Reduction Compared to LSTTL Logic ICs
  • HC Types
    • 2V to 6V Operation
    • High Noise Immunity: NIL = 30%, NIH = 30% of VCC at VCC = 5V
  • HCT Types
    • 4.5V to 5.5V Operation
    • Direct LSTTL Input Logic Compatibility, VIL = 0.8V (Max), VIH = 2V (Min)
    • CMOS Input Compatibility, Il 1µA at VOL, VOH

Data sheet acquired from Harris Semiconductor

  • Synchronous Counting and Asynchronous Loading
  • Two Outputs for N-Bit Cascading
  • Look-Ahead Carry for High-Speed Counting
  • Fanout (Over Temperature Range)
    • Standard Outputs . . . . . . . . . . . . . . . 10 LSTTL Loads
    • Bus Driver Outputs . . . . . . . . . . . . . 15 LSTTL Loads
  • Wide Operating Temperature Range . . . –55°C to 125°C
  • Balanced Propagation Delay and Transition Times
  • Significant Power Reduction Compared to LSTTL Logic ICs
  • HC Types
    • 2V to 6V Operation
    • High Noise Immunity: NIL = 30%, NIH = 30% of VCC at VCC = 5V
  • HCT Types
    • 4.5V to 5.5V Operation
    • Direct LSTTL Input Logic Compatibility, VIL = 0.8V (Max), VIH = 2V (Min)
    • CMOS Input Compatibility, Il 1µA at VOL, VOH

Data sheet acquired from Harris Semiconductor

The ’HC192, ’HC193 and ’HCT193 are asynchronously presettable BCD Decade and Binary Up/Down synchronous counters, respectively.

Presetting the counter to the number on the preset data inputs (P0-P3) is accomplished by a LOW asynchronous parallel load input (PL)\. The counter is incremented on the low-to-high transition of the Clock-Up input (and a high level on the Clock-Down input) and decremented on the low to high transition of the Clock-Down input (and a high level on the Clock-up input). A high level on the MR input overrides any other input to clear the counter to its zero state. The Terminal Count up (carry) goes low half a clock period before the zero count is reached and returns to a high level at the zero count. The Terminal Count Down (borrow) in the count down mode likewise goes low half a clock period before the maximum count (9 in the 192 and 15 in the 193) and returns to high at the maximum count. Cascading is effected by connecting the carry and borrow outputs of a less significant counter to the Clock-Up and CLock-Down inputs, respectively, of the next most significant counter.

If a decade counter is present to an illegal state or assumes an illegal state when power is applied, it will return to the normal sequence in one count as shown in state diagram.

The ’HC192, ’HC193 and ’HCT193 are asynchronously presettable BCD Decade and Binary Up/Down synchronous counters, respectively.

Presetting the counter to the number on the preset data inputs (P0-P3) is accomplished by a LOW asynchronous parallel load input (PL)\. The counter is incremented on the low-to-high transition of the Clock-Up input (and a high level on the Clock-Down input) and decremented on the low to high transition of the Clock-Down input (and a high level on the Clock-up input). A high level on the MR input overrides any other input to clear the counter to its zero state. The Terminal Count up (carry) goes low half a clock period before the zero count is reached and returns to a high level at the zero count. The Terminal Count Down (borrow) in the count down mode likewise goes low half a clock period before the maximum count (9 in the 192 and 15 in the 193) and returns to high at the maximum count. Cascading is effected by connecting the carry and borrow outputs of a less significant counter to the Clock-Up and CLock-Down inputs, respectively, of the next most significant counter.

If a decade counter is present to an illegal state or assumes an illegal state when power is applied, it will return to the normal sequence in one count as shown in state diagram.

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート CD54/74HC192, CD54/74HC193, CD54/74HCT193 データシート (Rev. F) 2003年 10月 13日
* SMD CD54HC192 SMD 5962-87808 2016年 6月 21日
アプリケーション・ノート Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021年 7月 26日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
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ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
ユーザー・ガイド Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003年 11月 14日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート SN54/74HCT CMOS Logic Family Applications and Restrictions 1996年 5月 1日
アプリケーション・ノート Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 1996年 4月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CDIP (J) 16 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

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