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CD54HC4017

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高速 CMOS ロジック 10 進カウンタ/分周、10 デコード出力

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製品詳細

Function Counter Bits (#) 10 Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
Function Counter Bits (#) 10 Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
CDIP (J) 16 135.3552 mm² 19.56 x 6.92
  • 2-V to 6-V Operation
  • Fully Static Operation
  • Buffered Inputs
  • Common Reset
  • Positive-Edge Clocking
  • Balanced Propagation Delay and Transition Times
  • High Noise Immunity: NIL = 30%, NIH = 30% of VCC at VCC = 5 V
  • Packaged in Ceramic (F) DIP Package and Also Available in Chip Form (H)
  • 2-V to 6-V Operation
  • Fully Static Operation
  • Buffered Inputs
  • Common Reset
  • Positive-Edge Clocking
  • Balanced Propagation Delay and Transition Times
  • High Noise Immunity: NIL = 30%, NIH = 30% of VCC at VCC = 5 V
  • Packaged in Ceramic (F) DIP Package and Also Available in Chip Form (H)

The CD54HC4017 is a high-speed silicon-gate CMOS 5-stage Johnson counter with ten decoded outputs. Each decoded output normally is low and sequentially goes high on the low-to-high transition of the clock (CP) input. Each output stays high for one clock period of the ten-clock-period cycle. The terminal count (TC) output transitions low to high after output ten (9) goes low, and can be used in conjunction with the clock enable (CE\) input to cascade several stages. CE\ disables counting when in the high state. The master reset (MR) input, when taken high, sets all the decoded outputs, except 0, to low.

The CD54HC4017 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C.

The CD54HC4017 is a high-speed silicon-gate CMOS 5-stage Johnson counter with ten decoded outputs. Each decoded output normally is low and sequentially goes high on the low-to-high transition of the clock (CP) input. Each output stays high for one clock period of the ten-clock-period cycle. The terminal count (TC) output transitions low to high after output ten (9) goes low, and can be used in conjunction with the clock enable (CE\) input to cascade several stages. CE\ disables counting when in the high state. The master reset (MR) input, when taken high, sets all the decoded outputs, except 0, to low.

The CD54HC4017 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート Decade Counter/Divider With Ten Decoded Outputs データシート 1999年 3月 19日
* SMD CD54HC4017 SMD 8601101EA 2016年 6月 21日
アプリケーション・ノート Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021年 7月 26日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
ユーザー・ガイド Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003年 11月 14日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート SN54/74HCT CMOS Logic Family Applications and Restrictions 1996年 5月 1日
アプリケーション・ノート Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 1996年 4月 1日

設計および開発

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パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CDIP (J) 16 Ultra Librarian
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購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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