ホーム ロジックと電圧変換 フリップ・フロップ、ラッチ、レジスタ JK フリップ・フロップ

CD74ACT112

アクティブ

セットとリセット搭載、デュアル・ネガティブ・エッジ・トリガ J-K フリップ・フロップ

製品詳細

Number of channels 2 Technology family ACT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 100 Supply current (max) (µA) 80 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Features Balanced outputs, Clear, High speed (tpd 10-50ns), Negative edge triggered, Positive input clamp diode, Preset Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
Number of channels 2 Technology family ACT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 100 Supply current (max) (µA) 80 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Features Balanced outputs, Clear, High speed (tpd 10-50ns), Negative edge triggered, Positive input clamp diode, Preset Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Catalog
SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6
  • Inputs Are TTL-Voltage Compatible
  • Speed of Bipolar F, AS, and S, With Significantly Reduced Power Consumption
  • Balanced Propagation Delays
  • ±24-mA Output Drive Current
    • Fanout to 15 F Devices
  • SCR-Latchup-Resistant CMOS Process and Circuit Design
  • Exceeds 2-kV ESD Protection Per MIL-STD-883, Method 3015

  • Inputs Are TTL-Voltage Compatible
  • Speed of Bipolar F, AS, and S, With Significantly Reduced Power Consumption
  • Balanced Propagation Delays
  • ±24-mA Output Drive Current
    • Fanout to 15 F Devices
  • SCR-Latchup-Resistant CMOS Process and Circuit Design
  • Exceeds 2-kV ESD Protection Per MIL-STD-883, Method 3015

The ’ACT112 devices contain two independent J-K negative-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset (PRE)\ or clear (CLR)\ inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE\ and CLR\ are inactive (high), data at the J and K inputs meeting the setup-time requirements is transferred to the outputs on the negative-going edge of the clock pulse (CLK). Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the fall time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the J and K inputs may be changed without affecting the levels at the outputs. These versatile flip-flops can perform as toggle flip-flops by tying J and K high.

The ’ACT112 devices contain two independent J-K negative-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset (PRE)\ or clear (CLR)\ inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE\ and CLR\ are inactive (high), data at the J and K inputs meeting the setup-time requirements is transferred to the outputs on the negative-going edge of the clock pulse (CLK). Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the fall time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the J and K inputs may be changed without affecting the levels at the outputs. These versatile flip-flops can perform as toggle flip-flops by tying J and K high.

ダウンロード

お客様が関心を持ちそうな類似品

open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン互換製品
CD74HCT73 アクティブ ハイスピード CMOS ロジック、リセット搭載、デュアル、ネガティブ エッジ トリガ J-K フリップ フロップ Longer average propagation delay (22ns), lower average drive strength (4mA)

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
1 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート CD54ACT112, CD74ACT112 データシート 2003年 1月 17日

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​