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CDC2351-EP

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エンハンスド製品、3 ステート出力、1 ライン入力 10 ライン出力、クロック・ドライバ

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製品詳細

Function Single-ended Output frequency (max) (MHz) 100 Number of outputs 10 Output supply voltage (V) 3.3 Core supply voltage (V) 3.3 Output skew (ps) 2500 Features 1:10 fanout Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating HiRel Enhanced Product Output type LVTTL Input type LVTTL
Function Single-ended Output frequency (max) (MHz) 100 Number of outputs 10 Output supply voltage (V) 3.3 Core supply voltage (V) 3.3 Output skew (ps) 2500 Features 1:10 fanout Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating HiRel Enhanced Product Output type LVTTL Input type LVTTL
SSOP (DB) 24 63.96 mm² 8.2 x 7.8
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Low Output Skew, Low Pulse Skew for Clock-Distribution and Clock-Generation Applications
  • Operates at 3.3-V VCC
  • LVTTL-Compatible Inputs and Outputs
  • Supports Mixed-Mode Signal Operation (5-V Input and Output Voltages With 3.3-V VCC)
  • Distributes One Clock Input to 10 Outputs
  • Outputs Have Internal Series Damping Resistor to Reduce Transmission Line Effects
  • Distributed VCC and Ground Pins Reduce Switching Noise
  • State-of-the-Art EPIC-IIB™ BiCMOS Design Significantly Reduces Power Dissipation
  • Shrink Small-Outline (DB) Package

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
EPIC-IIB is a trademark of Texas Instruments.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Low Output Skew, Low Pulse Skew for Clock-Distribution and Clock-Generation Applications
  • Operates at 3.3-V VCC
  • LVTTL-Compatible Inputs and Outputs
  • Supports Mixed-Mode Signal Operation (5-V Input and Output Voltages With 3.3-V VCC)
  • Distributes One Clock Input to 10 Outputs
  • Outputs Have Internal Series Damping Resistor to Reduce Transmission Line Effects
  • Distributed VCC and Ground Pins Reduce Switching Noise
  • State-of-the-Art EPIC-IIB™ BiCMOS Design Significantly Reduces Power Dissipation
  • Shrink Small-Outline (DB) Package

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
EPIC-IIB is a trademark of Texas Instruments.

The CDC2351 is a high-performance clock-driver circuit that distributes one input (A) to 10 outputs (Y) with minimum skew for clock distribution. The output-enable (OE)\ input disables the outputs to a high-impedance state. Each output has an internal series damping resistor to improve signal integrity at the load. The CDC2351 operates at nominal 3.3-V VCC.

The propagation delays are adjusted at the factory using the P0 and P1 pins. The factory adjustments ensure that the part-to-part skew is minimized and is kept within a specified window. Pins P0 and P1 are not intended for customer use and should be connected to GND.

The CDC2351M is characterized for operation over the full military temperature range of –55°C to 125°C.

The CDC2351 is a high-performance clock-driver circuit that distributes one input (A) to 10 outputs (Y) with minimum skew for clock distribution. The output-enable (OE)\ input disables the outputs to a high-impedance state. Each output has an internal series damping resistor to improve signal integrity at the load. The CDC2351 operates at nominal 3.3-V VCC.

The propagation delays are adjusted at the factory using the P0 and P1 pins. The factory adjustments ensure that the part-to-part skew is minimized and is kept within a specified window. Pins P0 and P1 are not intended for customer use and should be connected to GND.

The CDC2351M is characterized for operation over the full military temperature range of –55°C to 125°C.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート CDC2351-EP: 1-Line to 10-Line Clock Driver w/3-State Outputs データシート (Rev. A) 2004年 8月 24日
* VID CDC2351-EP VID V6204757 2016年 6月 21日
* 放射線と信頼性レポート CDC2351MDBREP Reliability Report 2011年 8月 25日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
リクエスト
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SSOP (DB) 24 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

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