CY29FCT818T
- Function, Pinout, and Drive Compatible With FCT, F Logic, and AM29818
- Reduced VOH (Typically = 3.3 V) Version of Equivalent FCT Functions
- Edge-Rate Control Circuitry for Significantly Improved Noise Characteristics
- Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
- Matched Rise and Fall Times
- Fully Compatible With TTL Input and Output Logic Levels
- 8-Bit Pipeline and Shadow Register
- ESD Protection Exceeds JESD 22
- 2000-V Human-Body Model (A114-A)
- 200-V Machine Model (A115-A)
- 1000-V Charged-Device Model (C101)
- CY29FCT818CT
- 64-mA Output Sink Current
- 32-mA Output Source Current
- CY29FCT818ATDMB
- 20-mA Output Sink Current
- 3-mA Output Source Current
- 3-State Outputs
The CY29FCT818T contains a high-speed 8-bit general-purpose data pipeline register and a high-speed 8-bit shadow register. The general-purpose register can be used in an 8-bit-wide data path for a normal system application. The shadow register is designed for applications such as diagnostics in sequential circuits, where it is desirable to load known data at a specific location in the circuit and to read the data at that location.
The shadow register can load data from the output of the device, and can be used as a right-shift register with bit-serial input (SDI) and output (SDO), using DCLK. The data register input is multiplexed to enable loading from the shadow register or from the data input pins, using PCLK. Data can be loaded simultaneously from the shadow register to the pipeline register, and from the pipeline register to the shadow register, provided setup-time and hold-time requirements are satisfied, with respect to the two independent clock inputs.
In a typical application, the general-purpose register in this device replaces an 8-bit data register in the normal data path of a system. The shadow register is placed in an auxiliary bit-serial loop that is used for diagnostics. During diagnostic operation, data is shifted serially into the shadow register, then transferred to the general-purpose register to load a known value into the data path. To read the contents at that point in the data path, the data is transferred from the data register into the shadow register, then shifted serially in the auxiliary diagnostic loop to make it accessible to the diagnostics controller. This data then is compared with the expected value to diagnose faulty operation of the sequential circuit.
This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
その他のデバイスとデータシート
このデータシートは、CY29FCT818T と CY29FCT818T-MIL の両方が適用対象です。
お客様が関心を持ちそうな類似品
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン互換製品
比較対象デバイスと類似の機能
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
---|---|---|---|---|---|---|
* | データシート | Diagnostic Scan Register With 3-State Outputs データシート (Rev. B) | 2001年 11月 2日 | |||
* | SMD | CY29FCT818T SMD 5962-96827 | 2016年 6月 21日 | |||
セレクション・ガイド | Logic Guide (Rev. AB) | 2017年 6月 12日 | ||||
アプリケーション・ノート | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015年 12月 2日 | ||||
セレクション・ガイド | ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) | 最新英語版 (Rev.AB) | 2014年 11月 6日 | |||
ユーザー・ガイド | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007年 1月 16日 | ||||
アプリケーション・ノート | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 | ||||
アプリケーション・ノート | Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) | 2004年 6月 22日 | ||||
ユーザー・ガイド | CYFCT Parameter Measurement Information | 2001年 4月 2日 | ||||
セレクション・ガイド | Advanced Bus Interface Logic Selection Guide | 2001年 1月 9日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
SOIC (DW) | 24 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点