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CY74FCT163T

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製品詳細

Function Counter Bits (#) 4 Technology family FCT Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Features Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
Function Counter Bits (#) 4 Technology family FCT Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Features Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
SOIC (DW) 16 106.09 mm² 10.3 x 10.3 SSOP (DBQ) 16 29.4 mm² 4.9 x 6
  • Function, Pinout, and Drive Compatible With FCT and F Logic
  • Reduced VOH (Typically = 3.3 V) Versions of Equivalent FCT Functions
  • Edge-Rate Control Circuitry for Significantly Improved Noise Characteristics
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)
  • Matched Rise and Fall Times
  • Fully Compatible With TTL Input and Output Logic Levels
  • CY54FCT163T
    • 32-mA Output Sink Current
    • 12-mA Output Source Current
  • CY74FCT163T
    • 64-mA Output Sink Current
    • 32-mA Output Source Current
  • Function, Pinout, and Drive Compatible With FCT and F Logic
  • Reduced VOH (Typically = 3.3 V) Versions of Equivalent FCT Functions
  • Edge-Rate Control Circuitry for Significantly Improved Noise Characteristics
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)
  • Matched Rise and Fall Times
  • Fully Compatible With TTL Input and Output Logic Levels
  • CY54FCT163T
    • 32-mA Output Sink Current
    • 12-mA Output Source Current
  • CY74FCT163T
    • 64-mA Output Sink Current
    • 32-mA Output Source Current

The \x92FCT163T devices are high-speed synchronous modulo-16 binary counters. They are synchronously presettable for application in programmable dividers. These devices have two types of count-enable (CEP and CET) inputs, plus a terminal-count (TC) output for versatility in forming synchronous multistaged counters. The \x92FCT163T devices have a synchronous-reset (SR\) input that overrides counting and parallel loading, and allows the outputs to be reset simultaneously on the rising edge of the clock.

These devices are fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

The \x92FCT163T devices are high-speed synchronous modulo-16 binary counters. They are synchronously presettable for application in programmable dividers. These devices have two types of count-enable (CEP and CET) inputs, plus a terminal-count (TC) output for versatility in forming synchronous multistaged counters. The \x92FCT163T devices have a synchronous-reset (SR\) input that overrides counting and parallel loading, and allows the outputs to be reset simultaneously on the rising edge of the clock.

These devices are fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
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アプリケーション・ノート Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) 2004年 6月 22日
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設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOIC (DW) 16 Ultra Librarian
SSOP (DBQ) 16 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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