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プログラマブル / 可変ゲイン・アンプ (PGA/VGA)

PGA112

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2 チャネル マルチプレクサ搭載、ゼロドリフト、100μV のオフセット、12nV/√Hz のノイズ、RRO (レール ツー レール出力)、(バイナリ ゲイン：つまりゲインが 1、2、4、...128

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PGA112

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製品詳細

PGA/VGA PGA Number of channels 2 Vs (min) (V) 2.2 Vs (max) (V) 5.5 Input type Single-ended Output type Single-ended Vos (offset voltage at 25°C) (typ) (mV) 0.025 Input offset drift (±) (typ) (µV/°C) 0.6 Input voltage noise (typ) (µV√Hz) 0.012 Interface type SPI Noise at 1 kHz (typ) (V√Hz) 0.000000013 BW at Acl (MHz) 10 Acl, min spec gain (V/V) 1 Architecture CMOS Features Daisy chain, Scope gains, Shutdown Slew rate (typ) (V/µs) 3 Iq per channel (typ) (mA) 1.08 Gain (max) (dB) 42 Gain error (typ) (%) 0.006 Gain drift (max) (ppm/°C) 0.5 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
PGA/VGA PGA Number of channels 2 Vs (min) (V) 2.2 Vs (max) (V) 5.5 Input type Single-ended Output type Single-ended Vos (offset voltage at 25°C) (typ) (mV) 0.025 Input offset drift (±) (typ) (µV/°C) 0.6 Input voltage noise (typ) (µV√Hz) 0.012 Interface type SPI Noise at 1 kHz (typ) (V√Hz) 0.000000013 BW at Acl (MHz) 10 Acl, min spec gain (V/V) 1 Architecture CMOS Features Daisy chain, Scope gains, Shutdown Slew rate (typ) (V/µs) 3 Iq per channel (typ) (mA) 1.08 Gain (max) (dB) 42 Gain error (typ) (%) 0.006 Gain drift (max) (ppm/°C) 0.5 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
VSSOP (DGS) 10 14.7 mm² 3 x 4.9
  • レール･ツー･レール入出力
  • オフセット：25μV（typ）、100μV（max）
  • ゼロ･ドリフト：0.35μV/°C（typ）、1.2μV/°C（max）
  • 低ノイズ：12nV/Hz
  • 入力オフセット電流：最大±5nA（+25°C）
  • ゲイン誤差：最大0.1%（G ≤ 32）、最大0.3%（G > 32）
  • バイナリ･ゲイン：1、2、4、8、16、32、64、128（PGA112、PGA116）
  • スコープ･ゲイン：1、2、5、10、20、50、100、200（PGA113、PGA117）
  • ゲイン切換時間：200ns
  • 2チャネルMUX：PGA112、PGA113
    10チャネルMUX：PGA116、PGA117
  • 4つの内部キャリブレーション･チャネル
  • CDAC ADCのドライブ用に最適化されたアンプ
  • 出力スイング：50mV（対電源レール）
  • 複数電圧システムに対応したAVDDとDVDD
  • IQ = 1.1mA（標準）
  • ソフトウェア/ハードウェア･シャットダウン： IQ ≤4μA（標準）
  • 温度範囲：-40°C～+125°C
  • デイジー･チェーン対応のSPI™インターフェイス（10MHz）
  • アプリケーション
    • 電力計の遠隔読み取り
    • 自動ゲイン制御
    • ポータブル･データ･アクイジション
    • PCベースのデータ･アクイジション･システム
    • 試験機器、計測機器
    • プログラマブル･ロジック･コントローラ
    • バッテリ駆動機器
    • ハンドヘルド試験装置
  • レール･ツー･レール入出力
  • オフセット：25μV（typ）、100μV（max）
  • ゼロ･ドリフト：0.35μV/°C（typ）、1.2μV/°C（max）
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  • バイナリ･ゲイン：1、2、4、8、16、32、64、128（PGA112、PGA116）
  • スコープ･ゲイン：1、2、5、10、20、50、100、200（PGA113、PGA117）
  • ゲイン切換時間：200ns
  • 2チャネルMUX：PGA112、PGA113
    10チャネルMUX：PGA116、PGA117
  • 4つの内部キャリブレーション･チャネル
  • CDAC ADCのドライブ用に最適化されたアンプ
  • 出力スイング：50mV（対電源レール）
  • 複数電圧システムに対応したAVDDとDVDD
  • IQ = 1.1mA（標準）
  • ソフトウェア/ハードウェア･シャットダウン： IQ ≤4μA（標準）
  • 温度範囲：-40°C～+125°C
  • デイジー･チェーン対応のSPI™インターフェイス（10MHz）
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    • 電力計の遠隔読み取り
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    • バッテリ駆動機器
    • ハンドヘルド試験装置

PGA112およびPGA113（バイナリ/スコープ･ゲイン）は、2つのアナログ入力、3ピンSPIインターフェイス、およびソフトウェア･シャットダウン機能を持ち、MSOP-10パッケージに収めました。PGA116およびPGA117（バイナリ/スコープ･ゲイン）は、10個のアナログ入力、デイジー･チェーン対応4ピンSPIインターフェイス、およびハードウェア/ソフトウェア･シャットダウン機能を、TSSOP-20パッケージに収めました。

すべてのモデルが、システム･レベル･キャリブレーションのための内部キャリブレーション･チャネルを備えています。各チャネルはそれぞれ、GND、0.9VCAL、0.1VCAL、およびVREFに接続されています。チャネル0に接続される外部電圧VCALは、システム･キャリブレーションのリファレンスとして使用されま す。バイナリ･ゲインは1、2、4、8、16、32、64、および128、スコープ･ゲインは1、2、5、10、20、50、100、および200です。

PGA112およびPGA113（バイナリ/スコープ･ゲイン）は、2つのアナログ入力、3ピンSPIインターフェイス、およびソフトウェア･シャットダウン機能を持ち、MSOP-10パッケージに収めました。PGA116およびPGA117（バイナリ/スコープ･ゲイン）は、10個のアナログ入力、デイジー･チェーン対応4ピンSPIインターフェイス、およびハードウェア/ソフトウェア･シャットダウン機能を、TSSOP-20パッケージに収めました。

すべてのモデルが、システム･レベル･キャリブレーションのための内部キャリブレーション･チャネルを備えています。各チャネルはそれぞれ、GND、0.9VCAL、0.1VCAL、およびVREFに接続されています。チャネル0に接続される外部電圧VCALは、システム･キャリブレーションのリファレンスとして使用されま す。バイナリ･ゲインは1、2、4、8、16、32、64、および128、スコープ･ゲインは1、2、5、10、20、50、100、および200です。
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技術資料

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設計および開発

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評価ボード

PGA112EVM-B — PGA112 評価モジュール Rev B

The PGA112EVM is an evaluation module that is used to fully evaluate the PGA112 programmable gain amplifier. The PGA112EVM consists of two printed circuit boards (PCBs). One board (the SM-USB-DIG Platform) generates the digital signals required to communicate with the PGA112. The second board is (...)

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TI.com で取り扱いなし
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パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
VSSOP (DGS) 10 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

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  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

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