TPS3700
Detector de tensión de ventana de alta tensión (18 V) para monitorización de sobretensión y subtensi
TPS3700
- Wide supply voltage range: 1.8 V to 18 V
- Adjustable threshold: down to 400 mV
- High threshold accuracy:
- 1.0% over temperature
- 0.25% (Typical)
- Low quiescent current: 5.5 µA (Typical)
- Open-drain outputs for overvoltage and undervoltage detection
- Internal hysteresis: 5.5 mV (Typ)
- Temperature range: –40°C to 125°C
- Packages:
- SOT-6
- 1.5-mm × 1.5-mm WSON-6
The TPS3700 wide-supply window voltage detector operates over a 1.8-V to 18-V range. The device has two high-accuracy comparators with an internal 400-mV reference and two open-drain outputs rated to 18 V for over- and undervoltage detection. The TPS3700 can be used as a window voltage detector or as two independent voltage monitors; the monitored voltage can be set with the use of external resistors.
OUTA is driven low when the voltage at INA+ drops below (VITP – VHYS), and goes high when the voltage returns above the respective threshold (VITP). OUTB is driven low when the voltage at INB– rises above VITP, and goes high when the voltage drops below the respective threshold (VITP – VHYS). Both comparators in the TPS3700 include built-in hysteresis for filtering to reject brief glitches, thereby ensuring stable output operation without false triggering.
The TPS3700 is available in a SOT-6 and a 1.5-mm × 1.5-mm WSON-6 package and is specified over the junction temperature range of –40°C to 125°C.
Productos similares que pueden interesarle
Pin por pin con la misma funcionalidad que el dispositivo comparado
Misma funcionalidad con diferente configuración de pines que el dispositivo comparado
Documentación técnica
Diseño y desarrollo
Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.
ISO5852SDWEVM-017 — Placa de evaluación de conducción y protección para módulos de potencia SiC e IGBT
The ISO5852SDWEVM-017 is a compact, dual chanel isolated gate driver board providing drive, bias voltages, protection and diagnostic needed for half-bridge Sic MOSFET and IGBT Power Modules in standard 62-mm package. This TI EVM is based on 5.7-kVrms reinforced isolation driver IC ISO5852SDW in (...)
TPS3700EVM-114 — Módulo de evaluación de detector de tensión de ventana de alta tensión (18 V) TPS3700 para encapsula
TPS3700EVM-202 — Módulo de evaluación de detector de tensión de ventana de alta tensión (18 V) TPS3700 para encapsula
UCC21732QDWEVM-025 — Placa de evaluación de conducción y protección para transistores y módulos de potencia SiC e IGBT
The UCC21732QDWEVM-025 is a compact, single channel isolated gate driver board providing drive, bias voltages, protection and diagnostic needed for SiC MOSFET and Si IGBT Power Modules housed in 150 x 62 x 17 mm and 106 x 62 x 30 mm packages. This TI EVM is based on 5.7-kVrms reinforced isolation (...)
UCC21750QDWEVM-025 — Placa de evaluación de conducción y protección para transistores y módulos de potencia SiC e IGBT
TPS3700 TINA-TI Transient Reference Design (Rev. A)
TPS3700 TINA-TI Transient Spice Model (Rev. B)
TPS3700 Unencrypted PSpice Transient Model (Rev. B)
PSPICE-FOR-TI — PSpice® para herramienta de diseño y simulación de TI
TIDA-010008 — Diseño de referencia basado en TVS de abrazadera plana para protección contra transitorios para apli
TIDA-010049 — Diseño de referencia de entrada digital evaluado por TUV para IEC 61508 (SIL-2)
PMP30046 — Diseño de referencia de alimentación de reserva SSD para empresas
TIDA-00448 — Diseño de referencia del controlador de puerta IGBT de alta corriente flexible con aislador digital
TIDA-00268 — Diseño de referencia de periféricos de un solo puerto Thunderbolt™
Encapsulado | Pines | Símbolos CAD, huellas y modelos 3D |
---|---|---|
SOT-23-THN (DDC) | 6 | Ultra Librarian |
WSON (DSE) | 6 | Ultra Librarian |
Pedidos y calidad
- RoHS
- REACH
- Marcado del dispositivo
- Acabado de plomo/material de la bola
- Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
- Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
- Contenido del material
- Resumen de calificaciones
- Monitoreo continuo de confiabilidad
- Lugar de fabricación
- Lugar de ensamblaje
Soporte y capacitación
Foros de TI E2E™ con asistencia técnica de los ingenieros de TI
El contenido lo proporcionan “tal como está” TI y los colaboradores de la comunidad y no constituye especificaciones de TI. Consulte los términos de uso.
Si tiene preguntas sobre la calidad, el paquete o el pedido de productos de TI, consulte el soporte de TI.