ホーム ロジックと電圧変換 フリップ・フロップ、ラッチ、レジスタ シフト・レジスタ
ホーム
ロジックと電圧変換
フリップ・フロップ、ラッチ、レジスタ
シフト・レジスタ

CD4094B-MIL

アクティブ

CMOS 8 段シフト・レジスタ / ストレージ・バス・レジスタ

ご注文はこちら
データシート

CD4094B-MIL

アクティブ
データシート ご注文はこちら

製品詳細

Configuration Serial-in, Parallel-out Bits (#) 8 Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 3 IOL (max) (mA) 4.2 IOH (max) (mA) -4.2 Supply current (max) (µA) 3000 Features Balanced outputs, Positive input clamp diode, Standard speed (tpd > 50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
Configuration Serial-in, Parallel-out Bits (#) 8 Technology family CD4000 Supply voltage (min) (V) 3 Supply voltage (max) (V) 18 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 3 IOL (max) (mA) 4.2 IOH (max) (mA) -4.2 Supply current (max) (µA) 3000 Features Balanced outputs, Positive input clamp diode, Standard speed (tpd > 50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
CDIP (J) 16 135.3552 mm² 19.56 x 6.92
  • 3-state parallel outputs for connection to common bus
  • Separate serial outputs synchronous to both positive and negative clock edges for cascading
  • Medium speed operation - 5 MHz at 10 V (typ.)
  • Standardized, symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (full package temperature range):
       1 V at VDD = 5 V
       2 V at VDD = 10 V
       2.5 V at VDD = 15 V
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"
  • Applications
    • Serial-to-parallel data conversion
    • Remote control holding register
    • Dual-rank shift, hold, and bus applications
  • 3-state parallel outputs for connection to common bus
  • Separate serial outputs synchronous to both positive and negative clock edges for cascading
  • Medium speed operation - 5 MHz at 10 V (typ.)
  • Standardized, symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current at 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • Noise margin (full package temperature range):
       1 V at VDD = 5 V
       2 V at VDD = 10 V
       2.5 V at VDD = 15 V
  • 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
  • Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"
  • Applications
    • Serial-to-parallel data conversion
    • Remote control holding register
    • Dual-rank shift, hold, and bus applications

CD4094B is an 8-stage serial shift register having a storage latch associated with each stage for strobing data from the serial input to parallel buffered 3-state outputs. The parallel outputs may be connected directly to common bus lines. Data is shifted on positive clock transitions. The data in each shift register stage is transferred to the storage register when the STROBE input is high. Data in the storage register appears at the outputs whenever the OUTPUT-ENABLE signal is high.

Two serial outputs are available for cascading a number of CD4094B devices. Data is available at the QS serial output terminal on positive clock edges to allow for high-speed operation in cascaded systems in which the clock rise time is fast. The same serial information, available at the Q'S terminal on the next negative clock edge, provides a means for cascading CD4094B devices when the clock rise time is slow.

The CD4094B types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline packages (NSR suffix), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

CD4094B is an 8-stage serial shift register having a storage latch associated with each stage for strobing data from the serial input to parallel buffered 3-state outputs. The parallel outputs may be connected directly to common bus lines. Data is shifted on positive clock transitions. The data in each shift register stage is transferred to the storage register when the STROBE input is high. Data in the storage register appears at the outputs whenever the OUTPUT-ENABLE signal is high.

Two serial outputs are available for cascading a number of CD4094B devices. Data is available at the QS serial output terminal on positive clock edges to allow for high-speed operation in cascaded systems in which the clock rise time is fast. The same serial information, available at the Q'S terminal on the next negative clock edge, provides a means for cascading CD4094B devices when the clock rise time is slow.

The CD4094B types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline packages (NSR suffix), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).
filter その他の シフト・レジスタ を検索
ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
10 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート CD4094B データシート (Rev. B) 2003年 6月 27日
* SMD CD4094B-MIL SMD 7702501EA 2016年 6月 21日
アプリケーション・ノート Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 2022年 12月 15日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
ユーザー・ガイド Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003年 11月 14日
アプリケーション・ノート Understanding Buffered and Unbuffered CD4xxxB Series Device Characteristics 2001年 12月 3日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CDIP (J) 16 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

投稿されたすべてのフォーラムトピック (英語) を表示

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ