CY29FCT520T
- Function, Pinout, and Drive Compatible With FCT, F Logic, and AM29520
- Reduced VOH (Typically = 3.3 V) Version of Equivalent FCT Functions
- Edge-Rate Control Circuitry for Significantly Improved Noise Characteristics
- Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
- Matched Rise and Fall Times
- Fully Compatible With TTL Input and Output Logic Levels
- ESD Protection Exceeds JESD 22
- 2000-V Human-Body Model (A114-A)
- 200-V Machine Model (A115-A)
- 1000-V Charged-Device Model (C101)
- Single- and Dual-Pipeline Operation Modes
- Multiplexed Data Inputs and Outputs
- CY29FCT520T
- 64-mA Output Sink Current
32-mA Output Source Current
- 64-mA Output Sink Current
- CY29FCT520ATDMB, CY29FCT520BTDMB
- 32-mA Output Sink Current
12-mA Output Source Current
- 32-mA Output Sink Current
- 3-State Outputs
The CY29FCT520T is a multilevel 8-bit-wide pipeline register. The device consists of four registers, A1, A2, B1, and B2, which are configured by the instruction inputs I0, I1 as a single four-level pipeline or as two two-level pipelines. The contents of any register can be read at the multiplexed output at any time by using the multiplex-selection controls (S0 and S1).
The pipeline registers are positive-edge triggered, and data is shifted by the rising edge of the clock input. Instruction I = 0 selects the four-level pipeline mode. Instruction I = 1 selects the two-level B pipeline, while I = 2 selects the two-level A pipeline. I = 3 is the hold instruction; no shifting is performed by the clock in this mode.
In the two-level operation mode, data is shifted from level 1 to level 2 and new data is loaded into level 1.
This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
その他のデバイスとデータシート
このデータシートは、CY29FCT520T と CY29FCT520T-MIL の両方が適用対象です。
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技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | Multilevel Pipeline Register With 3-State Outputs データシート (Rev. C) | 2001年 11月 2日 | |||
セレクション・ガイド | Logic Guide (Rev. AB) | 2017年 6月 12日 | ||||
アプリケーション・ノート | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015年 12月 2日 | ||||
セレクション・ガイド | ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) | 最新英語版 (Rev.AB) | 2014年 11月 6日 | |||
ユーザー・ガイド | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007年 1月 16日 | ||||
アプリケーション・ノート | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 | ||||
アプリケーション・ノート | Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) | 2004年 6月 22日 | ||||
ユーザー・ガイド | CYFCT Parameter Measurement Information | 2001年 4月 2日 | ||||
セレクション・ガイド | Advanced Bus Interface Logic Selection Guide | 2001年 1月 9日 |
設計および開発
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14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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SOIC (DW) | 24 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
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- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点