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LF412QML

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ミリタリー グレード、デュアル、30V、4MHz、FET 入力オペアンプ

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製品詳細

Number of channels 2 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (max) (V) 36 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (min) (V) 7 Rail-to-rail No GBW (typ) (MHz) 4 Slew rate (typ) (V/µs) 15 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 3 Iq per channel (typ) (mA) 1.8 Vn at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 25 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125 Offset drift (typ) (µV/°C) 7 CMRR (typ) (dB) 100 Iout (typ) (A) 0.025 Architecture FET Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 4 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -4 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 3 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -3
Number of channels 2 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (max) (V) 36 Total supply voltage (+5 V = 5, ±5 V = 10) (min) (V) 7 Rail-to-rail No GBW (typ) (MHz) 4 Slew rate (typ) (V/µs) 15 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 3 Iq per channel (typ) (mA) 1.8 Vn at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 25 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125 Offset drift (typ) (µV/°C) 7 CMRR (typ) (dB) 100 Iout (typ) (A) 0.025 Architecture FET Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 4 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -4 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 3 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -3
CDIP (NAB) 8 79.9592 mm² 10.16 x 7.87 DIESALE (Y) — See data sheet TO-CAN (LMC) 8 80.2816 mm² 8.96 x 8.96
  • Input Offset Voltage Drift: 20 μV/°C (Max)
  • Low Input Bias Current: 50 pA (Typ)
  • Low Input Noise Current: 0.01 pA/√Hz (Typ)
  • Wide Gain Bandwidth: 2.7 MHz (Min)
  • High Slew Rate: 8V/μs (Min)
  • High Input Impedance: 1012Ω
  • Low Total Harmonic Distortion <0.02%
  • Low 1/f Noise Corner: 50 Hz
  • Fast Settling Time to 0.01%: 2 μs

All trademarks are the property of their respective owners.

  • Input Offset Voltage Drift: 20 μV/°C (Max)
  • Low Input Bias Current: 50 pA (Typ)
  • Low Input Noise Current: 0.01 pA/√Hz (Typ)
  • Wide Gain Bandwidth: 2.7 MHz (Min)
  • High Slew Rate: 8V/μs (Min)
  • High Input Impedance: 1012Ω
  • Low Total Harmonic Distortion <0.02%
  • Low 1/f Noise Corner: 50 Hz
  • Fast Settling Time to 0.01%: 2 μs

All trademarks are the property of their respective owners.

This device is a low cost, high speed, JFET input operational amplifier with very low input offset voltage and ensured input offset voltage drift. It requires low supply current yet maintains a large gain bandwidth product and fast slew rate. In addition, well matched high voltage JFET input devices provide very low input bias and offset currents. The LF412 dual is pin compatible with the LM1558, allowing designers to immediately upgrade the overall performance of existing designs.

This amplifier may be used in applications such as high speed integrators, fast D/A converters, sample and hold circuits and many other circuits requiring low input offset voltage and drift, low input bias current, high input impedance, high slew rate and wide bandwidth.

This device is a low cost, high speed, JFET input operational amplifier with very low input offset voltage and ensured input offset voltage drift. It requires low supply current yet maintains a large gain bandwidth product and fast slew rate. In addition, well matched high voltage JFET input devices provide very low input bias and offset currents. The LF412 dual is pin compatible with the LM1558, allowing designers to immediately upgrade the overall performance of existing designs.

This amplifier may be used in applications such as high speed integrators, fast D/A converters, sample and hold circuits and many other circuits requiring low input offset voltage and drift, low input bias current, high input impedance, high slew rate and wide bandwidth.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート LF412QML Low Offset, Low Drift Dual JFET Input Operational Amplifier データシート (Rev. A) 2013年 3月 26日
その他の技術資料 Die D/S LF412 MDC MWC Low Offset, Low Drift Dual JFET Input Op Amp 2012年 10月 30日
その他の技術資料 Die D/S LF412 MD8 Low Offset, Low Drift Dual Jfet Input Op Amp 2012年 9月 7日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

計算ツール

ANALOG-ENGINEER-CALC — アナログ技術者向けカリキュレータ

アナログ・エンジニア向けカリキュレータは、アナログ回路設計エンジニアが日常的に繰り返し行っている計算の多くを迅速化します。この PC ベース・ツールはグラフィカル・インターフェイスにより、帰還抵抗を使用したオペアンプのゲイン設定から、A/D コンバータ（ADC）のドライブ・バッファ回路の安定化に最適な部品の選択に至るまで、一般的に行われている各種計算のリストを表示します。スタンドアロン・ツールとして使用できるほか、『アナログ回路設計式一覧ポケット・ガイド』で説明されているコンセプトと組み合わせることもできます。
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設計ツール

CIRCUIT060013 — T ネットワーク帰還回路搭載、反転アンプ

このデザインは入力信号 VIN を反転し、1000V/V 言い換えると 60dB の信号ゲインを達成します。T 帰還回路搭載の反転アンプは、値が小さい R4 や値が大きい帰還抵抗なしで高いゲインを取得するために使用できます。
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設計ツール

CIRCUIT060015 — 調整可能なリファレンス電圧回路

この回路は、反転と非反転のアンプ回路を 1 つに組み合わせ、入力電圧の負の値から入力電圧までの可変の基準電圧を生成します。ゲインを増加して、負の最高基準電圧のレベルを増やすこともできます。
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設計ツール

CIRCUIT060074 — コンパレータによるハイサイド電流センシング回路

このハイサイド電流センシング・ソリューションは、レール・ツー・レール入力同相範囲に対応している 1 個のコンパレータを使用し、負荷電流が 1A を上回った合にコンパレータの出力端子 (COMP OUT) で過電流アラート (OC-Alert) 信号を生成します。この実装は、OC-Alert 信号をアクティブ・ローに設定しています。したがって、1A のスレッショルドを上回ったときに、コンパレータの出力がローになります。負荷電流が 0.5 A (50% 減少) に低下すると OC-Alert が論理 HIGH (...)
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シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
リクエスト
シミュレーション・ツール

TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム

TINA-TI は、DC 解析、過渡解析、周波数ドメイン解析など、SPICE の標準的な機能すべてを搭載しています。TINA には多彩な後処理機能があり、結果を必要なフォーマットにすることができます。仮想計測機能を使用すると、入力波形を選択し、回路ノードの電圧や波形を仮想的に測定することができます。TINA の回路キャプチャ機能は非常に直観的であり、「クイックスタート」を実現できます。

TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)

TINA は DesignSoft (...)

ユーザー ガイド: PDF
英語版 (Rev.A): PDF
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パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CDIP (NAB) 8 Ultra Librarian
DIESALE (Y) —
TO-CAN (LMC) 8 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

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