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LM211-EP

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エンハンスド製品、ストローブ搭載、差動コンパレータ

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製品詳細

Number of channels 1 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 0.115 Vs (max) (V) 30 Vs (min) (V) 3.5 Rating HiRel Enhanced Product Features Strobe, Vos Adj Pin Iq per channel (typ) (mA) 5.1 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 3 Rail-to-rail No Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 100 VICR (max) (V) 28 VICR (min) (V) 0.5
Number of channels 1 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 0.115 Vs (max) (V) 30 Vs (min) (V) 3.5 Rating HiRel Enhanced Product Features Strobe, Vos Adj Pin Iq per channel (typ) (mA) 5.1 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 3 Rail-to-rail No Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 100 VICR (max) (V) 28 VICR (min) (V) 0.5
SOIC (D) 8 29.4 mm² 4.9 x 6
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Fast Response Times
  • Strobe Capability
  • Maximum Input Bias Current . . . 300 nA
  • Maximum Input Offset Current . . . 70 nA
  • Can Operate From Single 5-V Supply

(1)Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold-compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Fast Response Times
  • Strobe Capability
  • Maximum Input Bias Current . . . 300 nA
  • Maximum Input Offset Current . . . 70 nA
  • Can Operate From Single 5-V Supply

(1)Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold-compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

The LM211-EP is a single high-speed voltage comparator. This device is designed to operate from a wide range of power-supply voltages, including ±15-V supplies for operational amplifiers and 5-V supplies for logic systems. The output levels are compatible with most TTL and MOS circuits. This comparator is capable of driving lamps or relays and switching voltages up to 50 V at 50 mA. All inputs and outputs can be isolated from system ground. The outputs can drive loads referenced to ground, VCC+ or VCC-. Offset balancing and strobe capabilities are available, and the outputs can be wired-OR connected. If the strobe is low, the output is in the off state, regardless of the differential input.

The LM211-EP is a single high-speed voltage comparator. This device is designed to operate from a wide range of power-supply voltages, including ±15-V supplies for operational amplifiers and 5-V supplies for logic systems. The output levels are compatible with most TTL and MOS circuits. This comparator is capable of driving lamps or relays and switching voltages up to 50 V at 50 mA. All inputs and outputs can be isolated from system ground. The outputs can drive loads referenced to ground, VCC+ or VCC-. Offset balancing and strobe capabilities are available, and the outputs can be wired-OR connected. If the strobe is low, the output is in the off state, regardless of the differential input.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート LM211-EP データシート (Rev. A) 2006年 2月 22日
* VID LM211-EP VID V6203638 2016年 6月 21日
* 放射線と信頼性レポート LM211MDREP Reliability Report 2012年 5月 7日
e-Book（PDF） The Signal - オペアンプ設計ブログ集 英語版 2018年 3月 23日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

AMP-PDK-EVM — アンプ パフォーマンス開発キットの評価基板

このアンプ パフォーマンス開発キット (PDK) は、オペアンプの一般的なパラメータをテストするための評価基板 (EVM) キットであり、ほとんどのオペアンプやコンパレータと互換性があります。この評価基板キットは、パッケージのニーズに適した、さまざまなソケット付きドーターカード オプションを搭載したメイン ボードで構成されており、エンジニアはデバイスの性能を迅速に評価および検証できます。

AMP-PDK-EVM キットは、業界標準の最も一般的な次の 5 種類のパッケージをサポートしています。

  • D (SOIC-8 と SOIC-14)
  • PW (TSSOP-14)
  • DGK (VSSOP-8)
  • (...)
ユーザー ガイド: PDF | HTML
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シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
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シミュレーション・ツール

TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム

TINA-TI は、DC 解析、過渡解析、周波数ドメイン解析など、SPICE の標準的な機能すべてを搭載しています。TINA には多彩な後処理機能があり、結果を必要なフォーマットにすることができます。仮想計測機能を使用すると、入力波形を選択し、回路ノードの電圧や波形を仮想的に測定することができます。TINA の回路キャプチャ機能は非常に直観的であり、「クイックスタート」を実現できます。

TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)

TINA は DesignSoft (...)

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英語版 (Rev.A): PDF
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パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOIC (D) 8 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

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