この製品には新バージョンがあります。
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン配置が異なる製品
TLV3501A-Q1
- Qualified for Automotive Applications
- AEC-Q100 Qualified With the Following Results:
- Device Temperature Grade 1: –40°C to
+125°C Ambient Operating Temperature Range - Device HBM Classification Level 2
- Device CDM Classification Level C4B
- Device Temperature Grade 1: –40°C to
- High Speed: 4.5 ns
- Rail-To-Rail I/O
- Supply Voltage: 2.7 V to 5.5 V
- Push-Pull CMOS Output Stage
- Shutdown
- Micro Package: SOT23-6
- Low Supply Current: 3.2 mA
- Z-Suffix Offers Improved Delamination
- APPLICATIONS
- HEV/EV and Powertrain Applications
- DC-DC Converter
- Inverter
- Fuel Sensing
- Hybrid Power Control Unit
- Automatic Test Equipment
- Threshold Detector
- Zero-Crossing Detector
- Window Comparator
All other trademarks are the property of their respective owners
The TLV3501A-Q1 push-pull output comparator features a fast 4.5-ns propagation delay and operation from 2.7 V to 5.5 V. The input voltage supports a common-mode range that goes beyond the rails which makes the device an ideal choice for low-voltage applications. The rail-to-rail output directly drives either CMOS or TTL logic. The fast delay and wide common-mode range also makes TLV3501A-Q1 device ideal for EMI reduction through frequency dithering by lowering the EMI peaks. These parameters allow the device to be ideal for both DC-DC converter and inverter applications in HEV/EV and powertrain.
The SOT23-6 microsized package provides options for portable and space-restricted applications. The Z-suffix offers reduced delamination compared to the standard device.
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | TLV3501A-Q1 4.5-ns Rail-to-Rail, High-Speed Comparator in Microsize Packages データシート (Rev. B) | PDF | HTML | 2015年 10月 15日 | ||
e-Book(PDF) | The Signal - オペアンプ設計ブログ集 | 英語版 | 2018年 3月 23日 |
設計および開発
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パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
SOT-23 (DBV) | 6 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。