TLV4H390-SEP
- VID
- V62/24636-01XE
- V62/24636-02XE
- Radiation - Total Ionizing Dose (TID)
- TID characterized to 30krad (Si)
- ELDRS-Free to 30krad (Si)
- RHA/RLAT to 30krad (Si)
- Radiation - Single-Event Effects (SEE)
- SEL Immune to LET = 43MeV·cm 2 /mg
- SET Characterized to LET = 43MeV·cm 2 /mg
- Space enhanced plastic
- Controlled baseline
- One assembly/test site
- One fabrication site
- Extended product life cycle
- Product traceability
- 1.65V to 5.5V supply range
- Precision input offset voltage 300µV
- Fault-tolerant inputs
- 100ns typical propagation delay
- Low quiescent current 25µA per channel
- Low input bias current 5pA
- Open-drain output option (TLV4H290-SEP)
- Push-pull output option (TLV4H390-SEP)
- Full –55°C to 125°C temperature range
- 2kV ESD protection
The TLV4H290-SEP and TLV4H390-SEP are quad channel comparators which offer low input offset voltage and an excellent speed-to-power combination with a propagation delay of 100ns. Operating voltage range of 1.65V to 5.5V with a quiescent supply current of 25µA per channel.
This device family includes fault tolerant inputs that allow voltage to be applied to the input pins even when there is no power supply applied to the comparator making them well-suited for applications where power supply sequencing is a challenge. Likewise, these comparators feature no output phase inversion with fault-tolerant inputs that can go up to 6V without damage.
The TLV4H290-SEP comparator has an open-drain output stage that can be pulled below or beyond the supply voltage, making the output appropriate for level translation. The TLV4H390-SEP comparator has a push-pull output stage capable of both sinking and sourcing current.
The TLV4H290-SEP and TLV4H390-SEP are available in a plastic 14-pin SOT-23 package with radiation tolerance up to 43MeV·cm2 /mg.
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | TLV4H290-SEP and TLV4H390-SEP Radiation-Tolerant High-Precision Quad Comparators in Space Enhanced Plastic データシート (Rev. A) | PDF | HTML | 2024年 12月 13日 | ||
アプリケーション概要 | Analog Front-End Design With Texas Instruments’ Tooling Landscape | PDF | HTML | 2022年 3月 7日 |
設計および開発
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パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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SOT-23-THN (DYY) | 14 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。