データシート
TPD2E1B06
- Provides System Level ESD Protection for Low
Voltage IO Interface - IEC 61000-4-2 Level 4 ESD Rating
- Low IO Capacitance: 0.85 pF (Typical)
- DC Breakdown Voltage: 7 V (Minimum)
- Ultra-Low Leakage Current: 10 nA (Maximum)
- Low ESD Clamping Voltage
- Temperature Range: –40°C to 125°C
- Small Easy-to-Route DRL package
The TPD2E1B06 device is a dual-channel, ultra-low capacitance ESD protection device. It offers ±10-KV IEC contact ESD protection. Its 1-pF line capacitance makes it suitable for a wide range of applications. Typical application interfaces are USB 2.0, LVDS, and I2C. The TPD2E1B06 device has two common layout methods, and both are highlighted in Layout.
技術資料
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|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | TPD2E1B06 Dual-Channel High-Speed ESD Protection Device データシート (Rev. D) | PDF | HTML | 2016年 4月 27日 | ||
| アプリケーション・ノート | ESD and Surge Protection for USB Interfaces (Rev. B) | PDF | HTML | 2024年 1月 11日 | |||
| ユーザー・ガイド | Reading and Understanding an ESD Protection Data Sheet (Rev. A) | PDF | HTML | 2023年 9月 19日 | |||
| アプリケーション・ノート | Capacitance Requirements for High Speed Signals (Rev. A) | PDF | HTML | 2023年 8月 21日 | |||
| セレクション・ガイド | System-Level ESD Protection Guide (Rev. D) | 2022年 9月 7日 | ||||
| アプリケーション・ノート | ESD Packaging and Layout Guide (Rev. B) | PDF | HTML | 2022年 8月 18日 | |||
| アプリケーション・ノート | ESD Protection Layout Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2022年 4月 7日 | |||
| ユーザー・ガイド | Generic ESD Evaluation Module User's Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2021年 9月 27日 | |||
| ホワイト・ペーパー | Designing USB for short-to-battery tolerance in automotive environments | 2016年 2月 10日 | ||||
| EVM ユーザー ガイド (英語) | HVL054 User's Guide | 2013年 8月 12日 | ||||
| Analog Design Journal | Design Considerations for System-Level ESD Circuit Protection | 2012年 9月 25日 |
設計および開発
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評価ボード
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| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| SOT-5X3 (DRL) | 6 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。