SN74LVC1G06
- ESD Protection Exceeds JESD 22
- 2000-V Human Body Model (A114-A)
- 200-V Machine Model (A115-A)
- 1000-V Charged-Device Model (C101)
- Available in the Texas Instruments
NanoFree™ Package - Supports 5-V VCC Operation
- Input and Open-Drain Output Accept
Voltages up to 5.5 V - Maximum tpd of 4.5 ns at 3.3 V at 125°C
- Low Power Consumption, 10-µA Maximum ICC
- ±24-mA Output Drive at 3.3 V for open-drain devices
- Ioff Supports Partial-Power-Down Mode and Back-Drive Protection
- Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per
JESD 78, Class II - Can Be Used For Up or Down Translation
- Schmitt Trigger Action on All Ports
This single inverter buffer and driver is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.
NanoFree package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.
The output of the SN74LVC1G06 device is open-drain and can be connected to other open-drain outputs to implement active-low wired-OR or active-high wired-AND functions. The maximum sink current is 32 mA.
This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff.The Ioff circuitry disables the outputs when the device is powered down. This inhibits current backflow into the device which prevents damage to the device.
더 작고 제조하기 쉬운 패키지 옵션 제공
이 장치는 이제 공간이 제약된 설계를 위한 0.8 x 0.8 x 0.4(mm) DPW 패키지로 제공됩니다. 지금 주문
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비교 대상 장치와 동일한 기능을 지원하는 핀 대 핀
기술 자료
설계 및 개발
추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.
5-8-LOGIC-EVM — 5핀~8핀 DCK, DCT, DCU, DRL 및 DBV 패키지용 일반 논리 평가 모듈
많은 TI 레퍼런스 설계에는 SN74LVC1G06이(가) 포함됩니다.
레퍼런스 디자인 선택 툴을 사용하여 애플리케이션 및 매개 변수에 가장 적합한 설계를 검토하고 식별할 수 있습니다.
패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
---|---|---|
DSBGA (YZP) | 5 | Ultra Librarian |
DSBGA (YZV) | 4 | Ultra Librarian |
SOT-23 (DBV) | 5 | Ultra Librarian |
SOT-5X3 (DRL) | 5 | Ultra Librarian |
SOT-SC70 (DCK) | 5 | Ultra Librarian |
USON (DRY) | 6 | Ultra Librarian |
X2SON (DPW) | 5 | Ultra Librarian |
X2SON (DSF) | 6 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치