CD4011UB-MIL
- Propagation delay time = 30 ns (typ). at CL = 50 pF, VDD = 10 V
- Standardized symmetrical output characteristics
- 100% tested for quiescent current at 20V
- Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package temperature range; 100nA at 18 V and 25°C
- 5-V, 10-V, and 15-V parametric ratings
- Meets all requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"
Data sheet acquired from Harris Semiconductor
CD4011UB quad 2-input NAND gate provides the system designer with direct implementation of the NAND function and supplements the existing family of CMOS gates.
The CD4011UB types are supplied in 14-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 14-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 14-lead small-outline package (M, MT, M96, NSR suffixes), and 14-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).
技術資料
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* | データシート | CD4011UB TYPES データシート (Rev. D) | 2003年 8月 21日 |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点