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LF298-MIL

アクティブ

モノリシック・サンプル / ホールド回路

製品詳細

Rating Military Operating temperature range (°C) 0 to 0
Rating Military Operating temperature range (°C) 0 to 0
TO-CAN (LMC) 8 80.2816 mm² 8.96 x 8.96
  • ±5V~±18V電源で動作
  • アクイジション時間10µs未満
  • 論理入力がTTL、PMOS、CMOS互換
  • Ch = 0.01µFにおいて標準ホールド・ステップ0.5mV
  • 低入力オフセット
  • 0.002%のゲイン精度
  • ホールド・モードでの低い出力ノイズ
  • ホールド・モード中に入力特性の変化なし
  • サンプルまたはホールドでの高い電源除去率
  • 広帯域幅
  • 航空宇宙用認定、JM38510
  • ±5V~±18V電源で動作
  • アクイジション時間10µs未満
  • 論理入力がTTL、PMOS、CMOS互換
  • Ch = 0.01µFにおいて標準ホールド・ステップ0.5mV
  • 低入力オフセット
  • 0.002%のゲイン精度
  • ホールド・モードでの低い出力ノイズ
  • ホールド・モード中に入力特性の変化なし
  • サンプルまたはホールドでの高い電源除去率
  • 広帯域幅
  • 航空宇宙用認定、JM38510

LF298-MILデバイスはモノリシックなサンプル・アンド・ホールド回路で、BI-FETテクノロジを使用して非常に高いDC精度、信号の高速なアクイジション、低いドループ率を実現しています。ユニティ・ゲインのフォロワとして動作し、DCゲイン精度は標準0.002%、アクイジション時間は0.01%までで約6µsです。バイポーラ入力段を使用して、低いオフセット電圧と広い帯域幅を実現します。入力オフセットの調整は単一のピンで行われ、入力オフセットのドリフト係数は劣化しません。広い帯域幅から、LF298-MILは1MHzのオペアンプのフィードバック・ループに含めることができ、安定性の問題も発生しません。入力インピーダンスが1010Ωであるため、ソースのインピーダンスが高くても精度が低下しません。

Pチャネル接合FETを出力アンプのバイポーラ・デバイスと組み合わせることで、1µFのホールド・コンデンサにより最低5mV/分のドループ率が得られます。JFETのノイズは、従来の設計に使用されるMOSデバイスよりもはるかに低く、高温でも不安定になりません。全体の設計から、電源電圧に等しい入力信号についても、ホールド・モードで入力から出力へのフィードスルーが発生しないことが保証されます。

LF298-MILの論理入力は完全差動で入力電流が小さいため、TTL、PMOS、CMOSへ直接接続できます。差動スレッショルドは1.4Vです。LF298-MILは±5V~±18V電源で動作します。

より厳格な電気的仕様を持つAバージョンも利用できます。

LF298-MILデバイスはモノリシックなサンプル・アンド・ホールド回路で、BI-FETテクノロジを使用して非常に高いDC精度、信号の高速なアクイジション、低いドループ率を実現しています。ユニティ・ゲインのフォロワとして動作し、DCゲイン精度は標準0.002%、アクイジション時間は0.01%までで約6µsです。バイポーラ入力段を使用して、低いオフセット電圧と広い帯域幅を実現します。入力オフセットの調整は単一のピンで行われ、入力オフセットのドリフト係数は劣化しません。広い帯域幅から、LF298-MILは1MHzのオペアンプのフィードバック・ループに含めることができ、安定性の問題も発生しません。入力インピーダンスが1010Ωであるため、ソースのインピーダンスが高くても精度が低下しません。

Pチャネル接合FETを出力アンプのバイポーラ・デバイスと組み合わせることで、1µFのホールド・コンデンサにより最低5mV/分のドループ率が得られます。JFETのノイズは、従来の設計に使用されるMOSデバイスよりもはるかに低く、高温でも不安定になりません。全体の設計から、電源電圧に等しい入力信号についても、ホールド・モードで入力から出力へのフィードスルーが発生しないことが保証されます。

LF298-MILの論理入力は完全差動で入力電流が小さいため、TTL、PMOS、CMOSへ直接接続できます。差動スレッショルドは1.4Vです。LF298-MILは±5V~±18V電源で動作します。

より厳格な電気的仕様を持つAバージョンも利用できます。

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技術資料

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* データシート LF298-MIL モノリシック・サンプル・アンド・ホールド回路 データシート PDF | HTML 英語版 PDF | HTML 2017年 7月 17日

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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