LF298-MIL
- ±5V~±18V電源で動作
- アクイジション時間10µs未満
- 論理入力がTTL、PMOS、CMOS互換
- Ch = 0.01µFにおいて標準ホールド・ステップ0.5mV
- 低入力オフセット
- 0.002%のゲイン精度
- ホールド・モードでの低い出力ノイズ
- ホールド・モード中に入力特性の変化なし
- サンプルまたはホールドでの高い電源除去率
- 広帯域幅
- 航空宇宙用認定、JM38510
LF298-MILデバイスはモノリシックなサンプル・アンド・ホールド回路で、BI-FETテクノロジを使用して非常に高いDC精度、信号の高速なアクイジション、低いドループ率を実現しています。ユニティ・ゲインのフォロワとして動作し、DCゲイン精度は標準0.002%、アクイジション時間は0.01%までで約6µsです。バイポーラ入力段を使用して、低いオフセット電圧と広い帯域幅を実現します。入力オフセットの調整は単一のピンで行われ、入力オフセットのドリフト係数は劣化しません。広い帯域幅から、LF298-MILは1MHzのオペアンプのフィードバック・ループに含めることができ、安定性の問題も発生しません。入力インピーダンスが1010Ωであるため、ソースのインピーダンスが高くても精度が低下しません。
Pチャネル接合FETを出力アンプのバイポーラ・デバイスと組み合わせることで、1µFのホールド・コンデンサにより最低5mV/分のドループ率が得られます。JFETのノイズは、従来の設計に使用されるMOSデバイスよりもはるかに低く、高温でも不安定になりません。全体の設計から、電源電圧に等しい入力信号についても、ホールド・モードで入力から出力へのフィードスルーが発生しないことが保証されます。
LF298-MILの論理入力は完全差動で入力電流が小さいため、TTL、PMOS、CMOSへ直接接続できます。差動スレッショルドは1.4Vです。LF298-MILは±5V~±18V電源で動作します。
より厳格な電気的仕様を持つAバージョンも利用できます。
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点