SN54ALS08
- Package Options Include Plastic Small-Outline (D) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), and Standard Plastic (N) and Ceramic (J) 300-mil DIPs
These devices contain four independent 2-input positive-AND gates.
They perform the Boolean functions Y = A \x95 B or in positive logic.
The SN54ALS08 and SN54AS08 are characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74ALS08 and SN74AS08 are characterized for operation from 0°C to 70°C.
お客様が関心を持ちそうな類似品
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン配置が異なる製品
技術資料
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
13 をすべて表示 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
---|---|---|---|---|---|---|
* | データシート | Quadruple 2-Input Positive-AND Gates データシート (Rev. A) | 1994年 12月 1日 | |||
* | SMD | SN54ALS08 SMD 5962-86842 | 2016年 6月 21日 | |||
セレクション・ガイド | Logic Guide (Rev. AB) | 2017年 6月 12日 | ||||
アプリケーション・ノート | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015年 12月 2日 | ||||
セレクション・ガイド | ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) | 最新英語版 (Rev.AB) | 2014年 11月 6日 | |||
ユーザー・ガイド | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007年 1月 16日 | ||||
アプリケーション・ノート | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 | ||||
アプリケーション・ノート | TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes | 2002年 8月 29日 | ||||
アプリケーション・ノート | Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) | 1997年 8月 1日 | ||||
アプリケーション・ノート | Designing With Logic (Rev. C) | 1997年 6月 1日 | ||||
アプリケーション・ノート | Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits | 1996年 10月 1日 | ||||
アプリケーション・ノート | Live Insertion | 1996年 10月 1日 | ||||
アプリケーション・ノート | Advanced Schottky (ALS and AS) Logic Families | 1995年 8月 1日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
CDIP (J) | 14 | Ultra Librarian |
CFP (W) | 14 | Ultra Librarian |
LCCC (FK) | 20 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点