ホーム ロジックと電圧変換 論理ゲート NAND ゲート

SN54ALS133

アクティブ

ミリタリー、シングル、13 入力、4.5V ~ 5.5V バイポーラ NAND ゲート

製品詳細

Technology family ALS Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 13 IOL (max) (mA) 0.4 IOH (max) (mA) -8 Input type Bipolar Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 75 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family ALS Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 13 IOL (max) (mA) 0.4 IOH (max) (mA) -8 Input type Bipolar Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 75 Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
CDIP (J) 16 135.3552 mm² 19.56 x 6.92 CFP (W) 16 69.319 mm² 10.3 x 6.73 LCCC (FK) 20 79.0321 mm² 8.89 x 8.89
  • Package Options Include Plastic Small-Outline (D) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), and Standard Plastic (N) and Ceramic (J) 300-mil DIPs

 

  • Package Options Include Plastic Small-Outline (D) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), and Standard Plastic (N) and Ceramic (J) 300-mil DIPs

 

These devices contain a 13-input positive-NAND gate. They perform the following Boolean functions in positive logic:


Y=A\+B\+C\+D\+E\+F\+G\+H\+I\+J\+K\+L\+M\

The SN54ALS133 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74ALS133 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 

These devices contain a 13-input positive-NAND gate. They perform the following Boolean functions in positive logic:


Y=A\+B\+C\+D\+E\+F\+G\+H\+I\+J\+K\+L\+M\

The SN54ALS133 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74ALS133 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 

ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

お客様が関心を持ちそうな類似品

open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと類似の機能
SN74LV4T00-EP アクティブ エンハンスド製品、レベル シフタ内蔵、4 チャネル、2 入力 NAND ゲート Voltage range (1.65V to 5.5V), voltage translation capable

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
13 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート 13-Input Positive-NAND Gates データシート (Rev. B) 1994年 12月 1日
* SMD SN54ALS133 SMD 5962-88590 2016年 6月 21日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Advanced Schottky (ALS and AS) Logic Families 1995年 8月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CDIP (J) 16 Ultra Librarian
CFP (W) 16 Ultra Librarian
LCCC (FK) 20 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ