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SN54HC08-DIE

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クワッド 2 入力正論理 AND ゲート、SN54HC08-DIE

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製品詳細

Technology family HC IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Rating Space Operating temperature range (°C) 25 to 25
Technology family HC IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Rating Space Operating temperature range (°C) 25 to 25
DIESALE (TD) — See data sheet
  • Wide Operating Voltage Range
  • Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
  • Low Power Consumption
  • Typical tpd = 8 ns
  • Low Input Current
  • Wide Operating Voltage Range
  • Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
  • Low Power Consumption
  • Typical tpd = 8 ns
  • Low Input Current

The SN54HC08-DIE device contains four independent 2-input AND gates. Each gate performs the Boolean function of Y = A • B or Y = A + B in positive logic.

The SN54HC08-DIE device contains four independent 2-input AND gates. Each gate performs the Boolean function of Y = A • B or Y = A + B in positive logic.
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技術資料

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* データシート Rad-Tolerant Space Grade Die, Quadruple 2-Input Positive-AND Gates, SN54HC08-DIE データシート 2013年 6月 5日

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

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