ホーム ロジックと電圧変換 論理ゲート AND ゲート
ホーム
ロジックと電圧変換
論理ゲート
AND ゲート

SN74AC08-EP

生産中止品

エンハンスド製品、4 チャネル、2 入力、2V ～ 6V、高速 (7ns)、24mA のドライブ能力、AND ゲート

ご注文はこちら
データシート

SN74AC08-EP

生産中止品
データシート ご注文はこちら

製品詳細

Technology family AC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family AC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6
  • 管理されたベースライン
    • 1 つのアセンブリ / テスト拠点と 1 つの製造拠点
  • 拡張温度範囲：-55℃～125℃
  • 強化された DMS (Diminishing Manufacturing Sources) のサポート
  • 早期製品変更通知 (PCN)
  • 認定系譜 †
  • 2V～6V の V CC で動作
  • 6V までの入力許容電圧
  • 最大 t pd 7.5ns (5V 時)

(1)† JEDEC および業界標準に従った部品認定により、拡張温度範囲にわたって高信頼性の動作を保証します。これには、HAST (Highly Accelerated Stress Test) またはバイアス付き 85/85、温度サイクル、高圧またはバイアスなし HAST、電気移動法、結合部金属間化合物の寿命、複合金型の寿命が含まれますが、これらに限定されません。これらの認定テストは、この部品を規定の性能および環境の制限外で使用することを正当化すると見なされるものではありません。
  • 管理されたベースライン
    • 1 つのアセンブリ / テスト拠点と 1 つの製造拠点
  • 拡張温度範囲：-55℃～125℃
  • 強化された DMS (Diminishing Manufacturing Sources) のサポート
  • 早期製品変更通知 (PCN)
  • 認定系譜 †
  • 2V～6V の V CC で動作
  • 6V までの入力許容電圧
  • 最大 t pd 7.5ns (5V 時)

(1)† JEDEC および業界標準に従った部品認定により、拡張温度範囲にわたって高信頼性の動作を保証します。これには、HAST (Highly Accelerated Stress Test) またはバイアス付き 85/85、温度サイクル、高圧またはバイアスなし HAST、電気移動法、結合部金属間化合物の寿命、複合金型の寿命が含まれますが、これらに限定されません。これらの認定テストは、この部品を規定の性能および環境の制限外で使用することを正当化すると見なされるものではありません。

SN74AC08 はクワッド 2 入力正論理 AND ゲートです。デバイスは、ブール関数 Y = A • B つまり、Y = A + B を正論理で実行します。

SN74AC08 はクワッド 2 入力正論理 AND ゲートです。デバイスは、ブール関数 Y = A • B つまり、Y = A + B を正論理で実行します。
filter その他の AND ゲート を検索
ダウンロード

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
2 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74AC08-EP クワッド 2 入力正論理 AND ゲート データシート (Rev. A 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.A) PDF | HTML 2023年 7月 19日
* 放射線と信頼性レポート SN74AC08MDREP Reliability Report 2012年 6月 4日

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点