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SN74AHC1G02-EP

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エンハンスド製品、シングル、2 入力、2V ～ 5.5V NOR ゲート

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製品詳細

Technology family AHC Number of channels 1 Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 50 IOH (max) (mA) -50 Output type Push-Pull Input type Standard CMOS Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 110 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family AHC Number of channels 1 Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 50 IOH (max) (mA) -50 Output type Push-Pull Input type Standard CMOS Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 110 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² 2 x 2.1
  • Controlled Baseline
    • One Assembly Site
    • One Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Operating Range of 2 V to 5.5 V
  • Max tpd of 8.5 ns at 5 V
  • Low Power Consumption, 10 µA Max ICC
  • ±8 mA Output Drive at 5 V
  • Schmitt Trigger Action at All Inputs Makes the Circuit Tolerant for Slower Input Rise and Fall Time
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

(1)Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly Site
    • One Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Operating Range of 2 V to 5.5 V
  • Max tpd of 8.5 ns at 5 V
  • Low Power Consumption, 10 µA Max ICC
  • ±8 mA Output Drive at 5 V
  • Schmitt Trigger Action at All Inputs Makes the Circuit Tolerant for Slower Input Rise and Fall Time
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

(1)Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

This device contains a single 2-input NOR gate that performs the Boolean function Y = A • B or Y = A + B in positive logic.

This device contains a single 2-input NOR gate that performs the Boolean function Y = A • B or Y = A + B in positive logic.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート Single 2-Input Positive-NOR Gate データシート 2008年 2月 20日
* VID SN74AHC1G02-EP VID V6208611 2016年 6月 21日
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設計および開発

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パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian
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購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

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