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SN74LVC1G38

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オープン・ドレイン出力、シングル、2 入力.1.65V ～ 5.5V NAND ゲート

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製品詳細

Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) 0 Input type Standard CMOS Output type Open-drain Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) 0 Input type Standard CMOS Output type Open-drain Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 125
SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² 2.9 x 2.8 SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² 2 x 2.1 USON (DRY) 6 1.45 mm² 1.45 x 1 X2SON (DPW) 5 0.64 mm² 0.8 x 0.8 X2SON (DSF) 6 1 mm² 1 x 1
  • Latch-up performance exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD protection exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-body model (A114-A)
    • 200-V Machine model (A115-A)
    • 1000-V Charged-device model (C101)
  • Available in the Texas Instruments
    NanoStar™ and NanoFree™ Packages
  • Supports 5-V VCC operation
  • Inputs accept voltages to 5.5 V
  • Supports down translation to VCC
  • Maximum tpd of 4.5 ns at 3.3 V
  • Low power consumption, 10-µA maximum ICC
  • ±24-mA Output drive at 3.3 V
  • Ioff Supports partial-power-down mode and back-drive protection
  • Latch-up performance exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD protection exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-body model (A114-A)
    • 200-V Machine model (A115-A)
    • 1000-V Charged-device model (C101)
  • Available in the Texas Instruments
    NanoStar™ and NanoFree™ Packages
  • Supports 5-V VCC operation
  • Inputs accept voltages to 5.5 V
  • Supports down translation to VCC
  • Maximum tpd of 4.5 ns at 3.3 V
  • Low power consumption, 10-µA maximum ICC
  • ±24-mA Output drive at 3.3 V
  • Ioff Supports partial-power-down mode and back-drive protection

The SN74LVC1G38 device is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.

This device is a single two-input NAND buffer gate with open-drain output. It performs the Boolean function Y = A × B or Y = A + B in positive logic.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs when the device is powered down. This inhibits current backflow into the device which prevents damage to the device.

NanoStar™ and NanoFree™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.

The SN74LVC1G38 device is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.

This device is a single two-input NAND buffer gate with open-drain output. It performs the Boolean function Y = A × B or Y = A + B in positive logic.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs when the device is powered down. This inhibits current backflow into the device which prevents damage to the device.

NanoStar™ and NanoFree™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.
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技術資料

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設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

5-8-LOGIC-EVM — 5 ～ 8 ピンの DCK、DCT、DCU、DRL、DBV の各パッケージをサポートする汎用ロジックの評価基板 (EVM)

5 ～ 8 ピンで DCK、DCT、DCU、DRL、DBV の各パッケージを使用する多様なデバイスをサポートできる設計のフレキシブルな評価基板です。
ユーザー ガイド: PDF
TI.com で取り扱いなし
シミュレーション・モデル

SN74LVC1G38 Behavioral SPICE Model

SCEM629.ZIP (7 KB) - PSpice Model
ダウンロード
シミュレーション・モデル

SN74LVC1G38 IBIS Model (Rev. B)

SCEM394B.ZIP (33 KB) - IBIS Model
ダウンロード
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian
USON (DRY) 6 Ultra Librarian
X2SON (DPW) 5 Ultra Librarian
X2SON (DSF) 6 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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