TPA2012D2
- パッケージ毎の出力電力
- WQFN:
- 2.1W/Ch: 4Ω、5V
- 1.4W/Ch: 8Ω、5V
- 720mW/Ch: 8Ω、3.6V
- DSBGA:
- 1.2W/Ch: 4Ω、5V
(熱により制限あり) - 1.3W/Ch: 8Ω、5V
- 720mW/Ch: 8Ω、3.6V
- 1.2W/Ch: 4Ω、5V
- WQFN:
- 必要な外部部品が2個のみ
- 電源電圧範囲: 2.5V~5.5V
- チャネル別のシャットダウン制御
- 選択可能なゲイン: 6、12、18、24dB
- シャットダウン・ピンの内部プルダウン抵抗
- 高PSRR: 77dB (217Hz時)
- 短いスタートアップ時間(3.5ms)
- 低消費電流
- 低シャットダウン電流
- 短絡保護と熱保護
- 省スペースのパッケージ
- 2.01mm×2.01mm NanoFree™DSBGA (YZH)
- 4mm×4mm Thin QFN (RTJ)、 PowerPAD™
TPA2012D2はステレオ、フィルタフリーのClass-Dオーディオ・アンプで、DSBGAまたはWQFNパッケージで供給されます。TPA2012D2の動作に必要な外付け部品は2個だけです。
TPA2012D2は、チャネル別に独立のシャットダウン制御が可能です。G0、G1ゲイン選択ピンの設定により、6、12、18、24dBのゲインを選択できます。さらに、高PSRRおよび差動アーキテクチャにより、ノイズ耐性とRF整流が強化されています。これらの特長に加え、起動時間が短く、小型パッケージのTPA2012D2 Class-Dアンプは、携帯電話とPDAのどちらにも理想的な選択肢です。
TPA2012D2は、8Ωの負荷で1.4W/Ch (5V)または
720mW/Ch (3.6V)を駆動できます。TPA2012D2は4Ω負荷も駆動可能です。DSBGAのTPA2012D2は熱的な制限があり、4Ωで2.1W/Chを実現できない可能性があります。
DSBGAでの最大出力電力は、基板の放熱能力によって決まります。DSBGAで、WQFNパッケージに関連して熱的に制限されている領域を図33に示します。TPA2012D2は、過熱保護と短絡保護の機能を備えています。
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | TPA2012D2 2.1W/チャネル、ステレオ、フィルタフリー、Class-Dオーディオ・パワー・アンプ データシート (Rev. F 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.F) | PDF | HTML | 2017年 6月 1日 |
アプリケーション・ノート | Guidelines for Measuring Audio Power Amplifier Performance (Rev. A) | 2019年 8月 26日 | ||||
アプリケーション・ノート | AN-1849 An Audio Amplifier Power Supply Design (Rev. C) | 2019年 6月 27日 | ||||
アプリケーション・ノート | AN-1737 Managing EMI in Class D Audio Applications (Rev. A) | 2013年 5月 1日 | ||||
その他の技術資料 | TPA2012D2_NanoEVM_ Schematic | 2007年 2月 13日 | ||||
その他の技術資料 | TPA2012D2_NanoEVM_OV | 2007年 1月 29日 | ||||
アプリケーション・ノート | Measuring Class-D Amplifiers for Audio Speaker Overstress Testing | 2005年 10月 28日 | ||||
ユーザー・ガイド | TPA2012D2EVM - User Guide (Rev. A) | 2005年 4月 7日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
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パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
DSBGA (YZH) | 16 | Ultra Librarian |
WQFN (RTJ) | 20 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。