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CD74AC10

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3 チャネル、3 入力、1.5V ～ 5.5V NAND ゲート

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製品詳細

Technology family AC Supply voltage (min) (V) 1.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family AC Supply voltage (min) (V) 1.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 3 Inputs per channel 3 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Standard speed (tpd > 50ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6
  • AC Types Feature 1.5-V to 5.5-V Operation and Balanced Noise Immunity at 30% of the Supply Voltage
  • Speed of Bipolar F, AS, and S, With Significantly Reduced Power Consumption
  • Balanced Propagation Delays
  • ±24-mA Output Drive Current
    • Fanout to 15 F Devices
  • SCR Latchup-Resistant CMOS Process and Circuit Design
  • Exceeds 2-kV ESD Protection Per MIL-STD-883, Method 3015
  • AC Types Feature 1.5-V to 5.5-V Operation and Balanced Noise Immunity at 30% of the Supply Voltage
  • Speed of Bipolar F, AS, and S, With Significantly Reduced Power Consumption
  • Balanced Propagation Delays
  • ±24-mA Output Drive Current
    • Fanout to 15 F Devices
  • SCR Latchup-Resistant CMOS Process and Circuit Design
  • Exceeds 2-kV ESD Protection Per MIL-STD-883, Method 3015

The CD74AC10 contains three independent 3-input NAND gates. This device performs the Boolean function Y = (A •B • C)\ or Y = A\ + B\ + C\ in positive logic.

The CD74AC10 contains three independent 3-input NAND gates. This device performs the Boolean function Y = (A •B • C)\ or Y = A\ + B\ + C\ in positive logic.
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技術資料

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* データシート CD74AC10 データシート 2002年 11月 4日

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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