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DRV2911-Q1

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초음파 세척용 오토모티브, 단일 채널 PWM 입력 압전 변환기 드라이버

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DRV2911-Q1

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제품 상세 정보

Architecture Class-D, Fully Differential, Single-ended Input signal PWM Vs (min) (V) 5 Vs (max) (V) 3.6, 40 Vout (max) (V) 40 Iq (typ) (mA) 7 Bandwidth (typ) (MHz) 0.0002 Shutdown current (ISD) (µA) 1.5 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
Architecture Class-D, Fully Differential, Single-ended Input signal PWM Vs (min) (V) 5 Vs (max) (V) 3.6, 40 Vout (max) (V) 40 Iq (typ) (mA) 7 Bandwidth (typ) (MHz) 0.0002 Shutdown current (ISD) (µA) 1.5 Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125
VQFN (RGF) 40 35 mm² 7 x 5
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications
    • Temperature grade 1: –40°C ≤ TA ≤ 125°C
    • Wettable flank package
  • 2-Channel half bridge driver
    • PWM-inputs for each half bridge control
    • Overcurrent protection
    • Supports up to 200kHz PWM frequency
  • 5V to 35V operating voltage (40V abs max)
  • High output current capability: 8A Peak
  • Low MOSFET on-state resistance
    • 95mΩ (typ.) RDS(ON) (HS + LS) at TA = 25°C
  • Low power sleep mode
    • 2.5µA (max.) at VPVDD = 13.5V, TA = 25°C
  • Supports 1.8V, 3.3V, and 5V logic inputs
  • Built-in 3.3V, 30mA LDO regulator
  • Integrated protection features
    • Supply undervoltage lockout (UVLO)
    • Charge pump undervoltage (CPUV)
    • Overcurrent protection (OCP)
    • Thermal warning and shutdown (OTW/OTSD)
    • Fault condition indication pin (FAULTZ)
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications
    • Temperature grade 1: –40°C ≤ TA ≤ 125°C
    • Wettable flank package
  • 2-Channel half bridge driver
    • PWM-inputs for each half bridge control
    • Overcurrent protection
    • Supports up to 200kHz PWM frequency
  • 5V to 35V operating voltage (40V abs max)
  • High output current capability: 8A Peak
  • Low MOSFET on-state resistance
    • 95mΩ (typ.) RDS(ON) (HS + LS) at TA = 25°C
  • Low power sleep mode
    • 2.5µA (max.) at VPVDD = 13.5V, TA = 25°C
  • Supports 1.8V, 3.3V, and 5V logic inputs
  • Built-in 3.3V, 30mA LDO regulator
  • Integrated protection features
    • Supply undervoltage lockout (UVLO)
    • Charge pump undervoltage (CPUV)
    • Overcurrent protection (OCP)
    • Thermal warning and shutdown (OTW/OTSD)
    • Fault condition indication pin (FAULTZ)

DRV2911-Q1 integrates two H-bridges for driving piezo-based Lens Cover Systems, LCS, up to 40V absolute maximum capability while maintaining a very low RDS(ON) to reduce switching losses. DRV2911-Q1 integrates a power management LDO (3.3V / 30mA) and buck converter (5.0V to 5.7V, ≤200mA) that can be used to power external circuits like the Ultrasonic Lens Cleaning (ULC) controller, ULC1001.

Each output driver channel consists of N-channel power MOSFETs configured in a half-bridge configuration. Two independent PWM inputs drive each half-bridge. The DRV2911-Q1 includes a 30mA, 3.3V LDO regulator.

Several protection features including supply undervoltage lockout (UVLO), charge pump undervoltage (CPUV), overcurrent protection (OCP), over-temperature warning (OTW), and over-temperature shutdown (OTSD) are integrated into DRV2911-Q1 to protect the device and system against fault events. Fault conditions are indicated by the FAULTZ pin. The fault pin can also be tied to the controller device, like ULC1001-Q1, where a fault can be recognized over I2C.

DRV2911-Q1 integrates two H-bridges for driving piezo-based Lens Cover Systems, LCS, up to 40V absolute maximum capability while maintaining a very low RDS(ON) to reduce switching losses. DRV2911-Q1 integrates a power management LDO (3.3V / 30mA) and buck converter (5.0V to 5.7V, ≤200mA) that can be used to power external circuits like the Ultrasonic Lens Cleaning (ULC) controller, ULC1001.

Each output driver channel consists of N-channel power MOSFETs configured in a half-bridge configuration. Two independent PWM inputs drive each half-bridge. The DRV2911-Q1 includes a 30mA, 3.3V LDO regulator.

Several protection features including supply undervoltage lockout (UVLO), charge pump undervoltage (CPUV), overcurrent protection (OCP), over-temperature warning (OTW), and over-temperature shutdown (OTSD) are integrated into DRV2911-Q1 to protect the device and system against fault events. Fault conditions are indicated by the FAULTZ pin. The fault pin can also be tied to the controller device, like ULC1001-Q1, where a fault can be recognized over I2C.
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* Data sheet DRV2911-Q1 Full-Bridge PWM Input Piezo Driver for Ultrasonic Lens Cleaning datasheet PDF | HTML 2024/06/25

설계 및 개발

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평가 보드

ULC1001-DRV2911EVM — ULC1001 및 DRV2911 평가 모듈

ULC1001-DRV2911EVM은 ULC1001 DSP 컨트롤러 및 DRV2911 피에조 드라이버의 치량용 등급 2칩 솔루션을 보여주는 ULC(초음파 렌즈 청소) 평가 모듈(EVM)입니다. 이 쌍은 함께 작동하여 온도 감지, 렌즈 결함 감지 및 자동 세척을 위한 오염 물질 감지와 같은 기능을 갖춘 자가 청소 기능을 제공합니다. 이 EVM은 ULC 시스템의 전기적 부분을 제공하고 다양한 기계 설계를 구동할 수 있지만, 이 EVM에는 렌즈 시스템이 포함되어 있지 않습니다.

TI는 ULC 기술을 배우고 설계하는 고객을 지원하기 위해 (...)

사용 설명서: PDF | HTML
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평가 보드

ULC-HPB-DEMO — 2-MP camera with integrated ultrasonic lens cleaning and mini spray bottle

The ULC-HPB-DEMO is a collaboration between Texas Instruments and HPB Optoelectronics to create an all-in-one evaluation system for ultrasonic lens cleaning (ULC). The construction of the demonstration kit is completed by HPB Optoelectronics. Also known as the Executive Demo, this demo is simple (...)
발송: H.P.B. Optoelectronics Co., LTD.
사용 설명서: PDF | HTML
요청
지원 소프트웨어

ULC-DESIGN — Design resources for Ultrasonic Lens Cleaning

ULC1001 GUI and other design resources for Ultrasonic Lens Cleaning technology.
지원되는 제품 및 하드웨어

지원되는 제품 및 하드웨어

제품
초음파 청소 IC
DRV2901 — 넓은 공급 전압을 지원하는 초음파 세척을 위한 싱글 채널 PWM 입력 피에조 변환기 드라이버 DRV2911-Q1 — 초음파 세척용 오토모티브, 단일 채널 PWM 입력 압전 변환기 드라이버 ULC1001 — 전류 및 전압 센서와 PWM 출력을 지원하는 초음파 렌즈 청소용 구성 가능 DSP ULC1001-Q1 — 전류 및 전압 센서를 지원하는 초음파 렌즈 청소용 오토모티브 구성 가능 DSP
하드웨어 개발
평가 보드
ULC1001-DRV290XEVM — 초음파 렌즈 청소(ULC)용 ULC1001 및 DRV2901 하드웨어 평가 번들 ULC1001-DRV2911EVM — ULC1001 및 DRV2911 평가 모듈
요청
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
VQFN (RGF) 40 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

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