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LM293-EP

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EP(Enhanced Product) 듀얼 차동 콤퍼레이터

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제품 상세 정보

Number of channels 2 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 1.3 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 2 Rating HiRel Enhanced Product Iq per channel (typ) (mA) 0.4 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 5 Rail-to-rail In to V- Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 50 VICR (max) (V) 34.5 VICR (min) (V) 0
Number of channels 2 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 1.3 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 2 Rating HiRel Enhanced Product Iq per channel (typ) (mA) 0.4 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 5 Rail-to-rail In to V- Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 50 VICR (max) (V) 34.5 VICR (min) (V) 0
SOIC (D) 8 29.4 mm² 4.9 x 6
  • Controlled Baseline
    • One Assembly
    • Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Single Supply or Dual Supplies
  • Wide Range of Supply Voltage
    • Max Rating . . . 2 V to 36 V
    • Tested to 30 V
  • Low Supply-Current Drain Independent of Supply Voltage . . . 0.4 mA Typical Per Comparator
  • Low Input Bias Current . . . 25 nA Typical
  • Low Input Offset Voltage . . . 2 mV Typical
  • Common-Mode Input Voltage Range Includes Ground
  • Differential Input Voltage Range Equal to Maximum-Rated Supply Voltage . . . ±36 V
  • Low Output Saturation Voltage
  • Output Compatible With TTL, MOS, and CMOS

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold-compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly
    • Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Single Supply or Dual Supplies
  • Wide Range of Supply Voltage
    • Max Rating . . . 2 V to 36 V
    • Tested to 30 V
  • Low Supply-Current Drain Independent of Supply Voltage . . . 0.4 mA Typical Per Comparator
  • Low Input Bias Current . . . 25 nA Typical
  • Low Input Offset Voltage . . . 2 mV Typical
  • Common-Mode Input Voltage Range Includes Ground
  • Differential Input Voltage Range Equal to Maximum-Rated Supply Voltage . . . ±36 V
  • Low Output Saturation Voltage
  • Output Compatible With TTL, MOS, and CMOS

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold-compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

This device consist of two independent voltage comparators that are designed to operate from a single power supply over a wide range of voltages. Operation from dual supplies also is possible as long as the difference between the two supplies is 2 V to 36 V, and VCC is at least 1.5 V more positive than the input common-mode voltage. Current drain is independent of the supply voltage. The outputs can be connected to other open-collector outputs to achieve wired-AND relationships.

The LM293-EP is characterized for operation from -55°C to 125°C.

This device consist of two independent voltage comparators that are designed to operate from a single power supply over a wide range of voltages. Operation from dual supplies also is possible as long as the difference between the two supplies is 2 V to 36 V, and VCC is at least 1.5 V more positive than the input common-mode voltage. Current drain is independent of the supply voltage. The outputs can be connected to other open-collector outputs to achieve wired-AND relationships.

The LM293-EP is characterized for operation from -55°C to 125°C.

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기술 자료

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유형 직함 날짜
* Data sheet Dual Differential Comparator datasheet 2007/09/18
* VID LM293-EP VID V6207646 2016/06/21
* Radiation & reliability report LM293MDREP Reliability Report 2013/01/07
E-book The Signal e-book: A compendium of blog posts on op amp design topics 2017/03/28

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

AMP-PDK-EVM — 증폭기 성능 개발 키트 평가 모듈

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AMP-PDK-EVM 키트는 다음을 포함해 가장 널리 사용되는 5개의 업계 표준 패키지를 지원합니다.

  • D(SOIC-8 및 SOIC-14)
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  • (...)
사용 설명서: PDF | HTML
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시뮬레이션 툴

PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®

TI용 PSpice®는 아날로그 회로의 기능을 평가하는 데 사용되는 설계 및 시뮬레이션 환경입니다. 완전한 기능을 갖춘 이 설계 및 시뮬레이션 제품군은 Cadence®의 아날로그 분석 엔진을 사용합니다. 무료로 제공되는 TI용 PSpice에는 아날로그 및 전력 포트폴리오뿐 아니라 아날로그 행동 모델에 이르기까지 업계에서 가장 방대한 모델 라이브러리 중 하나가 포함되어 있습니다.

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시뮬레이션 툴

TINA-TI — SPICE 기반 아날로그 시뮬레이션 프로그램

TINA-TI provides all the conventional DC, transient and frequency domain analysis of SPICE and much more. TINA has extensive post-processing capability that allows you to format results the way you want them. Virtual instruments allow you to select input waveforms and probe circuit nodes voltages (...)
사용 설명서: PDF
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패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
SOIC (D) 8 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

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