홈 로직 및 전압 변환 로직 게이트 NAND 게이트
홈
로직 및 전압 변환
로직 게이트
NAND 게이트

SN54HC132-SP

활성

Space 4-ch, 4-input, 2-V to 6-V 5.2 mA drive strength NAND gate with Schmitt-Trigger inputs

지금 주문
데이터 시트

SN54HC132-SP

활성
데이터 시트 지금 주문

제품 상세 정보

Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 4 Inputs per channel 4 IOL (max) (mA) 5.2 IOH (max) (mA) -5.2 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 28 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Number of channels 4 Inputs per channel 4 IOL (max) (mA) 5.2 IOH (max) (mA) -5.2 Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Features High speed (tpd 10- 50ns) Data rate (max) (Mbps) 28 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
CDIP (J) 14 130.4652 mm² 19.56 x 6.67 CFP (W) 14 58.023 mm² 9.21 x 6.3
  • Buffered inputs
  • Wide operating temperature range: –40°C to +85°C
  • Supports fanout up to 10 LSTTL loads
  • Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs
  • Buffered inputs
  • Wide operating temperature range: –40°C to +85°C
  • Supports fanout up to 10 LSTTL loads
  • Significant power reduction compared to LSTTL logic ICs

This device contains four independent 2-input NAND gates. Each gate performs the Boolean function Y = A ● B in positive logic.

This device contains four independent 2-input NAND gates. Each gate performs the Boolean function Y = A ● B in positive logic.
filter 기타 NAND 게이트 찾기
다운로드

관심 가지실만한 유사 제품

open-in-new 대안 비교
다른 핀 출력을 지원하지만 비교 대상 장치와 동일한 기능
신규 SN54SC4T00-SEP 활성 통합 레벨 시프터가 있는 방사능 내성, 4채널, 2입력 1.2V~5.5V NAND 게이트 Voltage range (1.2V to 5.5V)

기술 자료

star =TI에서 선정한 이 제품의 인기 문서
검색된 결과가 없습니다. 검색어를 지우고 다시 시도하십시오.
1개 모두 보기
유형 직함 날짜
* Data sheet SNx4HC132 Quadruple 2-Input NAND Gates with Schmitt-Trigger Inputs datasheet (Rev. H) 2021/01/15

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

콘텐츠는 TI 및 커뮤니티 기고자에 의해 "있는 그대로" 제공되며 TI의 사양으로 간주되지 않습니다. 사용 약관을 참조하십시오.

품질, 패키징, TI에서 주문하는 데 대한 질문이 있다면 TI 지원을 방문하세요. ​​​​​​​​​​​​​​

동영상