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SN54HCT74

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클리어 및 프리셋을 지원하는 듀얼 D형 양극 에지 트리거 플립플롭

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SN54HCT74

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제품 상세 정보

Number of channels 2 Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 25 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Supply current (max) (µA) 40 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
Number of channels 2 Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 25 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Supply current (max) (µA) 40 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
CDIP (J) 14 130.4652 mm² 19.56 x 6.67 CFP (W) 14 58.023 mm² 9.21 x 6.3 LCCC (FK) 20 79.0321 mm² 8.89 x 8.89
  • Operating voltage range of 4.5 V to 5.5 V
  • Outputs can drive up to 10 LSTTL loads
  • Low power consumption, 40-µA max I CC
  • Typical t pd = 17 ns
  • ±4-mA output drive at 5 V
  • Low input current of 1 µA max
  • Inputs are TTL-voltage compatible
  • Operating voltage range of 4.5 V to 5.5 V
  • Outputs can drive up to 10 LSTTL loads
  • Low power consumption, 40-µA max I CC
  • Typical t pd = 17 ns
  • ±4-mA output drive at 5 V
  • Low input current of 1 µA max
  • Inputs are TTL-voltage compatible

The ’HCT74 devices contain two independent D-type positive-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset ( PRE) or clear ( CLR) inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE and CLR are inactive (high), data at the data (D) input meeting the setup time requirements are transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of CLK. Following the hold-time interval, data at the D input may be changed without affecting the levels at the outputs.

The ’HCT74 devices contain two independent D-type positive-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset ( PRE) or clear ( CLR) inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE and CLR are inactive (high), data at the data (D) input meeting the setup time requirements are transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of CLK. Following the hold-time interval, data at the D input may be changed without affecting the levels at the outputs.
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기술 자료

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유형 직함 날짜
* Data sheet SNx4HCT74 Dual D-Type Positive-Edge-Triggered Flip-Flips With Clear and Preset datasheet (Rev. G) PDF | HTML 2022/10/21
Application note Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 2022/12/15
Application note Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021/07/26
Selection guide Logic Guide (Rev. AB) 2017/06/12
Application note Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015/12/02
User guide LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007/01/16
Application note Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004/07/08
User guide Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003/11/14
Application note TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002/08/29
Application note CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997/06/01
Application note Designing With Logic (Rev. C) 1997/06/01
Application note SN54/74HCT CMOS Logic Family Applications and Restrictions 1996/05/01
Application note Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 1996/04/01

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
CDIP (J) 14 Ultra Librarian
CFP (W) 14 Ultra Librarian
LCCC (FK) 20 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

콘텐츠는 TI 및 커뮤니티 기고자에 의해 "있는 그대로" 제공되며 TI의 사양으로 간주되지 않습니다. 사용 약관을 참조하십시오.

품질, 패키징, TI에서 주문하는 데 대한 질문이 있다면 TI 지원을 방문하세요. ​​​​​​​​​​​​​​

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