SN74AHCT594-Q1
- AEC-Q100 qualified for automotive applications:
- Device temperature grade 1: -40°C to +125°C
- Device HBM ESD classification level 2
- Device CDM ESD classification level C4B
- Available in wettable flank QFN (WBQA) package
- Operating range 4.5V to 5.5V VCC
- TTL-Compatible inputs
- Low delay, 12.4ns max (VCC = 5V, CL = 50pF)
- Latch-up performance exceeds 250mAper JESD 17
The SN74AHCT594-Q1 is an 8-bit serial-in, parallel-out shift register that feeds an 8-bit D-type storage register. Separate clocks (RCLK, SRCLK) and direct overriding clear (RCLR, SRCLR) inputs are provided on both the shift and storage registers. A serial (QH) output is provided for cascading purposes.
Both the shift register (SRCLK) and storage register (RCLK) clocks are positive edge triggered. If both clocks are connected together, the shift register always is one clock pulse ahead of the storage register.
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기술 자료
설계 및 개발
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14-24-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 D, DB, DGV, DW, DYY, NS 및 PW 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈
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14-24-NL-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 비 리드 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈
14-24-NL-LOGIC-EVM은 14핀~24핀 BQA, BQB, RGY, RSV, RJW 또는 RHL 패키지가 있는 로직 또는 변환 디바이스를 지원하도록 설계된 유연한 평가 모듈(EVM)입니다.
패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
---|---|---|
TSSOP (PW) | 16 | Ultra Librarian |
WQFN (BQB) | 16 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치