SN74HCS264-Q1
- AEC-Q100 Qualified for automotive applications:
- Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
- Device HBM ESD Classification Level 2
- Device CDM ESD Classifcation Level C6
- Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
- Schmitt-trigger inputs allow for slow or noisy input signals
- Low power consumption
- Typical ICC of 100 nA
- Typical input leakage current of ±100 nA
- 7.8-mA output drive at 6 V
The device contains an 8-bit shift register with AND-gated serial inputs and an asynchronous clear (CLR) input. Data at the serial inputs can be changed while CLK is high or low, provided the minimum setup time requirements are met. All inputs include Schmitt-trigger architecture, adding noise margin and eliminating any input transition rate requirement. Clocking occurs on the low-to-high-level transition of CLK.
Upon a clock trigger, the device will store the result of the (A ● B) input data line in the first register and propagate each register’s data to the next register. The outputs are inverted from the data stored.
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기술 자료
유형 | 직함 | 날짜 | ||
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* | Data sheet | SN74HCS264-Q1 Automotive 8-Bit Parallel-Out Serial Shift Registers datasheet | 2020/07/13 |
설계 및 개발
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14-24-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 D, DB, DGV, DW, DYY, NS 및 PW 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈
14-24-LOGIC-EVM 평가 모듈(EVM)은 14핀~24핀 D, DW, DB, NS, PW, DYY 또는 DGV 패키지에 있는 모든 로직 장치를 지원하도록 설계되었습니다.
패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
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SOIC (D) | 14 | Ultra Librarian |
TSSOP (PW) | 14 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치