SN74LVC2G132
- Available in Texas Instruments NanoFree Package
- Supports 5-V VCC Operation
- Inputs Accept Voltages to 5.5 V
- Max tpd of 5.3 ns at 3.3 V
- Low Power Consumption, 10-μA Max ICC
- ±24-mA Output Drive at 3.3 V
- Typical VOLP (Output Ground Bounce) <0.8 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
- Typical VOHV (Output VOH Undershoot) >2 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
- Ioff Supports Live Insertion, Partial Power Down Mode, and Back Drive Protection
- Support Translation Down (5V to 3.3V and 3.3V to 1.8V)
- Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
- ESD Protection Exceeds JESD 22
- 2000-V Human-Body Model (A114-A)
- 200-V Machine Model (A115-A)
- 1000-V Charged-Device Model (C101)
This dual 2-input NAND gate with Schmitt-trigger inputs is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.
The SN74LVC2G132 contains two inverters and performs the Boolean function Y = A ⋅ B or Y = A + B in positive logic. The device functions as two independent inverters, but because of Schmitt action, it has different input threshold levels for positive-going (VT+) and negative-going (VT-) signals.
NanoFree™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.
This device can be triggered from the slowest of input ramps and still give clean jitter-free output signals.
This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
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기술 자료
설계 및 개발
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5-8-LOGIC-EVM — 5핀~8핀 DCK, DCT, DCU, DRL 및 DBV 패키지용 일반 논리 평가 모듈
TIDEP0076 — DLP® 구조적 조명을 사용한 AM572x 프로세서 기반의 3D 머신 비전 레퍼런스 디자인
TIDA-01487 — 절연 CAN FD(유연한 데이터) 속도 리피터 레퍼런스 디자인
TIDA-010049 — IEC 61508(SIL-2)용 TUV 평가 디지털 입력 레퍼런스 설계
TIDEP0046 — DSP 가속화용 OpenCL을 사용한 AM57x의 몬테카를로 시뮬레이션 레퍼런스 디자인
TIDEP0047 — TI의 AM57x 프로세서를 사용한 전력 및 열 설계 고려 사항 레퍼런스 설계
패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
---|---|---|
DSBGA (YZP) | 8 | Ultra Librarian |
SSOP (DCT) | 8 | Ultra Librarian |
VSSOP (DCU) | 8 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치