TL391B-Q1
- Qualified for automotive applications
- AEC-Q100 qualified with the following results:
- Device temperature grade 1: –40°C to 125°C ambient operating temperature range (B and Q versions)
- Device temperature grade 3: –40°C to 85°C ambient operating temperature range (I version)
- Device HBM ESD classification level 2
- Device CDM ESD classification level C5
- NEW TL331B-Q1 and TL391B-Q1
- Wide range of supply voltage, 2 V to 36 V
- Low supply-current drain independent of supply voltage: 0.43 mA Typ (B version)
- Low input bias current, 3.5 nA typ (B version)
- Low input offset voltage, 0.37 mV typ (B Version)
- Differential input voltage range equal to maximum-rated supply voltage, ±36 V
- Input range includes ground
- TL391B-Q1 provides an alternate pinout
- Output compatible With TTL, MOS and CMOS
The TL331B-Q1 and TL391B-Q1 devices are the next generation versions of the industry-standard TL331-Q1 comparator. These next generation devices provide outstanding value for cost-sensitive applications, with features including lower offset voltage, higher supply voltage capability, lower supply current, lower input bias current, lower propagation delay, dedicated ESD protection cells with improved negative input voltage handling. The TL331B-Q1 can drop-in replace both the TL331-Q1 "I" and "Q" versions. The TL391B-Q1 provides an alternate pinout of the TL331B-Q1.
This device consists of a single voltage comparator designed to operate from a single power supply over a wide range of voltages. Operation from dual supplies also is possible if the difference between the two supplies is 2 V to 36 V and V CC is at least 1.5 V more positive than the input common-mode voltage. Current drain is independent of the supply voltage. To achieve wired-AND relationships, one can connect the output to other open-collector outputs.
기술 자료
유형 | 직함 | 날짜 | ||
---|---|---|---|---|
* | Data sheet | TL331B-Q1, TL391B-Q1 and TL331-Q1 Automotive Single Comparators datasheet (Rev. G) | PDF | HTML | 2023/08/30 |
설계 및 개발
추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.
AMP-PDK-EVM — 증폭기 성능 개발 키트 평가 모듈
증폭기 성능 개발 키트(PDK)는 일반적인 연산 증폭기(OP 앰프) 매개 변수를 테스트할 수 있는 평가 모듈(EVM) 키트입니다. 대부분의 연산 증폭기 및 콤퍼레이터와 호환됩니다. EVM 키트는 패키지 요구 사항에 맞는 여러 소켓형 부속 카드 옵션이 있는 메인 보드를 제공하여 엔지니어가 디바이스 성능을 신속하게 평가하고 확인할 수 있습니다.
AMP-PDK-EVM 키트는 다음을 포함해 가장 널리 사용되는 5개의 업계 표준 패키지를 지원합니다.
- D(SOIC-8 및 SOIC-14)
- PW(TSSOP-14)
- DGK(VSSOP-8)
- (...)
DIP-ADAPTER-EVM — DIP 어댑터 평가 모듈
소형 표면 실장 IC(집적 회로)와 쉽고 빠르며 경제적인 방식으로 인터페이싱하는 방법을 제공하는 DIP 어댑터 평가 모듈(DIP-ADAPTER-EVM)로 연산 증폭기 프로토타이핑 및 테스트 속도를 높이세요. 제품에 포함된 Samtec 터미널 스트립을 사용하여 지원되는 연산 증폭기를 연결하거나 기존 회로에 직접 연결할 수 있습니다.
DIP 어댑터 EVM 키트는 다음을 포함해 가장 널리 사용되는 6개의 업계 표준 패키지를 지원합니다.
- D 및 U(SOIC-8)
- PW(TSSOP-8)
- DGK(MSOP-8, VSSOP-8)
- (...)
PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®
TI 설계 및 시뮬레이션 환경용 PSpice는 기본 제공 라이브러리를 이용해 복잡한 혼합 신호 설계를 시뮬레이션할 수 있습니다. 레이아웃 및 제작에 (...)
TINA-TI — SPICE 기반 아날로그 시뮬레이션 프로그램
패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
---|---|---|
SOT-23 (DBV) | 5 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.