TPD1E01B04
- IEC 61000-4-2 Level 4 ESD Protection
- ±15-kV Contact Discharge
- ±17-kV Air Gap Discharge
- IEC 61000-4-4 EFT Protection
- 80 A (5/50 ns)
- IEC 61000-4-5 Surge Protection
- 2.5 A (8/20 µs)
- IO Capacitance:
- 0.18 to 0.20 pF (Typical)
- 0.20 to 0.23 pF (Maximum)
- DC Breakdown Voltage: 6.4 V (Typical)
- Ultra Low Leakage Current: 10-nA (Maximum)
- Low ESD Clamping Voltage: 15 V at 16 A TLP
- Low Insertion Loss: 26.9 GHz (–3 dB Bandwidth, DPL)
- Supports High Speed Interfaces up to 20 Gbps
- Industrial Temperature Range: –40°C to +125°C
- Industry Standard 0201 and 0402 footprints
The TPD1E01B04 is a bidirectional TVS ESD protection diode array for USB Type-C and Thunderbolt 3 circuit protection. The TPD1E01B04 is rated to dissipate ESD strikes at the maximum level specified in the IEC 61000-4-2 international standard (Level 4).
This device features a 0.18 to 0.20-pF (typical) IO capacitance making it ideal for protecting high-speed interfaces up to 20 Gbps such as USB 3.1 Gen2 and Thunderbolt 3. The low dynamic resistance and low clamping voltage ensure system level protection against transient events.
The TPD1E01B04 is offered in the industry standard 0201 (DPL) package and 0402 (DPY) packages.
您可能會感興趣的類似產品
引腳對引腳且具備與所比較裝置相同的功能
技術文件
找不到結果。請清除您的搜尋條件，然後再試一次。
檢視所有 9 | 類型 | 標題 | 日期 | ||
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | TPD1E01B04 1-Channel ESD Protection Diode for USB Type-C and Thunderbolt 3 datasheet (Rev. C) | PDF | HTML | 2016年 12月 19日 |
| Application note | ESD and Surge Protection for USB Interfaces (Rev. B) | PDF | HTML | 2024年 1月 11日 | |
| Selection guide | System-Level ESD Protection Guide (Rev. D) | 2022年 9月 7日 | ||
| Application note | ESD Packaging and Layout Guide (Rev. B) | PDF | HTML | 2022年 8月 18日 | |
| User guide | Generic ESD Evaluation Module User's Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2021年 9月 27日 | |
| Technical article | ESD fundamentals, part 4: ESD capacitance | PDF | HTML | 2018年 2月 12日 | |
| Technical article | USB Type-C™: Will your ESD solution protect the port? | PDF | HTML | 2016年 11月 21日 | |
| Technical article | The dangers of deep snap-back ESD circuit-protection diodes | PDF | HTML | 2016年 9月 12日 | |
| Application note | Picking ESD Diodes for Ultra High-Speed Data Lines | 2016年 6月 29日 |
設計與開發
如需其他條款或必要資源，請按一下下方的任何標題以檢視詳細頁面 (如有)。
開發板
ESDEVM — ESD 評估模組
靜電敏感裝置 (ESD) 評估模組 (EVM) 是我們大多數 ESD 產品組合的開發平台。此電路板配備所有傳統 ESD 元件封裝，可測試任意數量的裝置。裝置可以焊接到其相應的元件封裝上，然後進行測試。對於一般高速 ESD 二極體，會實作阻抗控制的配置以取得 S 參數並取消內嵌電路板軌跡。對於非高速 ESD 二極體，其元件封裝會包含連接至測試點的軌跡，讓您輕鬆執行 DC 測試，例如崩潰電壓、保持電壓、洩漏等。電路板配置也可以透過將訊號針腳短路到訊號所在的任何地方，讓任何裝置針腳都能輕鬆地連接到電源 (VCC) 或接地。
模擬工具
PSPICE-FOR-TI — PSpice® for TI 設計與模擬工具
PSpice® for TI is a design and simulation environment that helps evaluate functionality of analog circuits. This full-featured, design and simulation suite uses an analog analysis engine from Cadence®. Available at no cost, PSpice for TI includes one of the largest model libraries in the (...)
模擬工具
TINA-TI — 基於 SPICE 的類比模擬程式
TINA-TI provides all the conventional DC, transient and frequency domain analysis of SPICE and much more. TINA has extensive post-processing capability that allows you to format results the way you want them. Virtual instruments allow you to select input waveforms and probe circuit nodes voltages (...)
使用指南: PDF
| 封裝 | 針腳 | CAD 符號、佔位空間與 3D 模型 |
|---|---|---|
| X1SON (DPY) | 2 | Ultra Librarian |
| X2SON (DPL) | 2 | Ultra Librarian |
訂購與品質
內含資訊：
- RoHS
- REACH
- 產品標記
- 鉛塗層/球物料
- MSL 等級/回焊峰值
- MTBF/FIT 估算值
- 材料內容
- 認證摘要
- 進行中持續性的可靠性監測
內含資訊：
- 晶圓廠位置
- 組裝地點
建議產品可能具有與此 TI 產品相關的參數、評估模組或參考設計。