GUI para el módulo de evaluación (EVM)
AFE11612EVM-GUI — GUI for the AFE11612 evaluation module (EVM)
The AFE11612EVM-GUI is a windows-based software GUI that controls the AFE11612EVM through I2C and SPI.
AFE11612-SEP
Extremo frontal analógico de 12 bits con tolerancia a la radiación, sensores de temperatura, 12 cana
Hoja de datos
AFE11612-SEP
- Radiation tolerant:
- Single-event latch-up (SEL) immune up to LET = 43 MeV-cm 2/mg at 125°C
- Single-event functional interrupt (SEFI) characterized up to LET = 43 MeV-cm 2/mg
- Total ionizing dose (TID) RLAT/RHA characterized up to 20 krad(Si)
- Space-enhanced plastic (space EP):
- Meets ASTM E595 outgassing specification
- Vendor item drawing (VID) V62/22614
- Military temperature range: –55°C to +125°C
- One fabrication, assembly, and test site
- Gold bond wire, NiPdAu lead finish
- Wafer lot traceability
- Extended product life cycle
- 12 monotonic, 12-bit DACs
- 0 V to 5 V output range
- DAC shutdown to user-defined level
- 16 input, 12-bit SAR ADC
- High sample rate: 500 kSPS
- 16 single-ended inputs or 2 differential and 12 single-ended inputs
- Programmable out-of-range alarms
- Eight GPIO pins
- Internal 2.5-V reference
- Two remote temperature sensors
- Internal temperature sensor
- Configurable SPI and I 2C interface
- 2.7-V to 5.5-V operation
The AFE11612-SEP is a highly integrated analog monitor and control device designed for high-density, general-purpose monitor and control systems. The device includes 12 12-bit digital-to-analog converters (DACs) and a 16-channel, 12-bit, analog-to-digital converter (ADC). The device also incorporates eight general-purpose inputs and outputs (GPIOs), two remote temperature sensor channels, and a local temperature sensor channel.
The device has an internal 2.5-V reference that sets the DAC to an output voltage range of 0 V to 5 V. The device also supports operation from an external reference. The device supports communication through both SPI-compatible and I 2C-compatible interfaces.
The device high level of integration significantly reduces component count and simplifies closed-loop system design, thus making the device a great choice for high-density applications where radiation-tolerance and board space are critical.
Documentación técnica
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Ver todo 6 | Tipo | Título | Fecha | ||
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | AFE11612-SEP Radiation-Tolerant, Analog Monitor and Controller With Multichannel ADC, DACs, and Temperature Sensors datasheet (Rev. A) | PDF | HTML | 15 sep 2023 |
| * | Radiation & reliability report | AFE11612-SEP Single-Event Effects (SEE) Test Report (Rev. A) | 01 sep 2023 | |
| * | Radiation & reliability report | AFE11612-SEP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report (Rev. B) | 26 ene 2023 | |
| * | Radiation & reliability report | AFE11612-SEP Reliability and Production Flow Chart (Rev. A) | PDF | HTML | 23 dic 2022 |
| EVM User's guide | AFE11612 Evaluation Module User's Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 03 jun 2024 | |
| Certificate | AFE11612EVM EU RoHS Declaration of Conformity (DoC) | 01 feb 2023 |
Diseño y desarrollo
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Placa de evaluación
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|---|---|---|
| HTQFP (PAP) | 64 | Ultra Librarian |
Pedidos y calidad
Información incluida:
- RoHS
- REACH
- Marcado del dispositivo
- Acabado de plomo/material de la bola
- Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
- Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
- Contenido del material
- Resumen de calificaciones
- Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
- Lugar de fabricación
- Lugar de ensamblaje
Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.
Soporte y capacitación
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