データシート
TPS548D26
- 4.0mΩ および 1.0mΩ の MOSFET を内蔵し、40A の連続電流動作に対応
- 外部 5V バイアスのサポートにより効率向上、最小 2.7V の入力電圧で動作
- 出力電圧範囲：0.6V ～ 5.5V
- 高精度の電圧リファレンスと差動リモート検出による高精度の出力
- 0℃～85℃の TJ で ±0.5% の VOUT 許容誤差
- -40℃～125℃の TJ で ±1% の VOUT 許容誤差
- 高速過渡応答の D-CAP+™ 制御トポロジですべてのセラミック出力コンデンサをサポート
- SS ピンで内部ループ補償を選択可能
- サイクル単位のバレー電流制限を選択可能
- DCM または FCCM 動作で、動作周波数を 0.6MHz～1.2MHz の範囲で選択可能
- プリバイアスされた出力への安全なスタートアップ
- ソフトスタート時間を 0.75ms～6ms の範囲でプログラム可能
- オープン ドレインのパワー グッド出力 (PG)
- 過電流、過電圧、低電圧、過熱保護機能でヒカップまたはラッチオフ応答を選択可能
- 5mm × 6mm、37 ピン WQFN-FCRLF パッケージ
TPS548D26 デバイスは高集積降圧コンバータで、D-CAP+ 制御トポロジによって高速過渡応答を実現しています。外部補償が不要のため、本デバイスは使いやすく、外付け部品をほとんど必要としません。このデバイスは、スペースに制約のあるデータ センター アプリケーションに適した設計になっています。
TPS548D26 デバイスは、差動リモート センス、高性能の内蔵 MOSFET、動作時接合部温度の全範囲にわたって高精度 (±1%) の 0.6V 基準電圧を備えています。本デバイスは、高速な負荷過渡応答、精密な負荷レギュレーションと入力電圧レギュレーション、スキップ モードまたは FCCM 動作、プログラム可能なソフトスタートを特長としています。過電流、過電圧、低電圧、過熱保護機能でヒカップまたはラッチオフ応答を選択可能です。
TPS548D26 は鉛フリー デバイスで、適用除外なしで RoHS に準拠しています。
技術資料
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3 をすべて表示 | 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | TPS548D26 4V～16V 入力、40A 同期整流降圧コンバータ 、差動リモート検出 データシート (Rev. B 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2024年 7月 31日 |
| アプリケーション・ノート | Point-of-Load Designs in Data Center Applications for Intel Xeon Sapphire Rapids Scalable Processors (Rev. C) | PDF | HTML | 2024年 10月 9日 | |||
| アプリケーション概要 | Solving Power Design Challenges in Enterprise SSD Applications | PDF | HTML | 2024年 9月 23日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
評価ボード
TPS548C26EVM — TPS548C26 4V ～ 16V、35A、同期整流 D-CAP+™ 降圧コンバータの評価基板
TPS548C26 評価基板 (EVM) は、8V ～ 16V の入力を受け入れ、最大 35A の出力電流を供給できます。このコンバータは D-CAP+™ 制御方式を使用して高速過渡応答を実現しており、使用する出力静電容量が小さいので基板面積を節減できます。ハイサイドとローサイドの各 MOSFET をゲート・ドライブ回路とともに、パッケージの内部に組み込んでいます。固定周波数の高度な電流モード制御を採用しているので、レギュレータを外部クロック・ソース (供給源) に同期させることができます。この評価基板 (EVM) (...)
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| WQFN-FCRLF (RXX) | 37 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点