ADC3664-SP
- Screening and radiation performance
- QMLV screening and reliability assurance
- Total ionizing dose (TID): 300krad (Si)
- Single event latch-up (SEL): 75MeV-cm2/mg
- Ambient temperature range: -55°C to 105°C
- Dual Channel ADC
- 14-bit 125MSPS
- Noise floor: -156.9dBFS/Hz
- Low power consumption: 100mW/ch
- Latency: 2 clock cycles
- Clock rate versus voltage reference:
- External reference: 1MSPS to 125MSPS
- Internal reference: 100MSPS to 125MSPS
- 14-Bit, no missing codes
- Input bandwidth: 200MHz (-3dB)
- INL: ±2.6LSB; DNL: ±0.9LSB
- Optional digital down converter (DDC):
- Real or complex decimation
- Decimation by 2, 4, 8, 16, and 32
- 32-bit NCO
- Serial LVDS (SLVDS) interface (2-, 1-, and 1/2-wire)
- Spectral performance (FIN = 5MHz):
- SNR: 77.5dBFS
- SFDR: 84dBc HD2, HD3
- Non HD23: 91dBc
The ADC3664-SP is a low latency, low noise, and ultra low power, 14-bit, 125MSPS, high-speed dual channel ADC. Designed for best noise performance, the device delivers a noise spectral density of –156.9dBFS/Hz combined with excellent linearity and dynamic range. The ADC3664-SP offers DC precision together with IF sampling support to enable the design of a wide range of applications. The low latency architecture (as low as 1 clock cycle latency) and high sample rate also enable high speed control loops. The ADC consumes only 100mW/ch at 125MSPS and the power consumption scales well with sampling rate.
The device uses a serial LVDS (SLVDS) interface to output the data which minimizes the number of digital interconnects. The device also integrates a digital down converter (DDC) to help reduce the data rate and lower system power consumption. The device is pin-to-pin compatible with the 18-bit, 65MSPS ADC3683-SP. It comes in a 64-pin CFP package (10.9mm x 10.9mm) and supports a temperature range from –55°C to +105°C.
기술 자료
설계 및 개발
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| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| CFP (HBP) | 64 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.