ESD401
- Robust IEC 61000-4-2 level 4 ESD protection:
- ±24kV contact discharge
- ±30kV air gap discharge
- IEC 61000-4-5 surge protection:
- 4.5A (8/20µs)
- Low Vclamp of 12V at 1.8A IPP (8/20µs)
- IEC 61000-4-4 EFT protection:
- 80A (5/50ns)
- Bi-directional ESD diode to protect interfaces up to ± 5.5V
- IO capacitance: 0.77pF (typical)
- High DC breakdown voltage: 8.3V (typical)
- Ultra low leakage current: 30pA (typical)
- Low dynamic resistance 0.7Ω (typical)
- Industrial temperature range: –40°C to +125°C
- Industry standard 0402 package
The ESD401 is a bidirectional TVS ESD protection diode featuring low RDYN and low clamping voltage. The ESD401 is rated to dissipate ESD strikes exceeding the maximum level specified in the IEC 61000-4-2 international standard (Level 4). The low dynamic resistance (0.7Ω) to ensure system level protection against transient events. This device features a 0.77pF IO capacitance making it ideal for protecting interfaces such as USB 2.0. The device can operate with ultra-low leakage up to ±5.5V and survive DC faults up to 8.3V.
The ESD401 is offered in the industry standard 0402 (DPY) package.
기술 자료
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7개 모두 보기 | 유형 | 직함 | 날짜 | ||
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | ESD401 1-Channel ESD Protection Diode With Robust IEC ESD Performance datasheet (Rev. B) | PDF | HTML | 2024/08/23 |
| Application note | ESD and Surge Protection for USB Interfaces (Rev. B) | PDF | HTML | 2024/01/11 | |
| Selection guide | System-Level ESD Protection Guide (Rev. D) | 2022/09/07 | ||
| Application note | ESD Packaging and Layout Guide (Rev. B) | PDF | HTML | 2022/08/18 | |
| Application note | ESD Protection Layout Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2022/04/07 | |
| User guide | Generic ESD Evaluation Module User's Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2021/09/27 | |
| Application note | Does BAV99 Really Protect My System from ESD? | 2017/05/24 |
설계 및 개발
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평가 보드
ESDEVM — ESD 평가 모듈
ESD(정전기에 민감한 장치) EVM(평가 모듈)은 대부분의 ESD 포트폴리오를 위한 개발 플랫폼입니다. 이 보드에는 디바이스의 수를 테스트할 수 있도록 기존의 모든 ESD 풋프린트가 함께 제공됩니다. 장치를 적절한 풋프린트에 납땜한 후 테스트할 수 있습니다. 일반적인 고속 ESD 다이오드의 경우 S 매개 변수를 받고 보드 트레이스를 임베드하기 위해 임피던스 제어 레이아웃이 구현되어 있습니다. 비 고속 ESD 다이오드의 경우 고장 전압, 유지 전압, 누설 등의 DC 테스트를 쉽게 실행할 수 있도록 테스트 지점으로 가는 트레이스가 (...)
| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| X1SON (DPY) | 2 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
포함된 정보:
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
- 팹 위치
- 조립 위치
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.