LM2903-Q1
- Qualified for automotive applications
- AEC-Q100 qualified with the following results:
- Device temperature grade 0: –40°C to 150°C ambient operating temperature range (LM2903E-Q1)
- Device temperature grade 1: –40°C to 125°C ambient operating temperature range
- Device HBM ESD classification level H1C
- Device CDM ESD classification level C4B
- Improved 2 kV HBM ESD for "B" device
- Tri-Temp testing available for "B" device
- Single supply or dual supplies
- Low supply-current independent of supply voltage 200 uA typical per comparator ("B" Versions)
- Low input bias current 3.5 nA typical ("B" device)
- Low input offset current 0.5 nA typ ("B" device)
- Low input offset voltage ±0.37 mV typ ("B" device)
- Common-mode input voltage range includes ground
- Differential input voltage range equal to maximum-rated supply voltage ±36 V
- Output compatible with TTL, MOS, and CMOS
- Functional Safety-Capable
The LM2903B-Q1 device is the next generation version of the industry-standard LM2903-Q1 comparator family. This next generation family provides outstanding value for cost-sensitive applications, with features including lower offset voltage, higher supply voltage capability, lower supply current, lower input bias current, lower propagation delay, and improved 2kV ESD performance with drop-in replacement convenience.
All devices consist of two independent voltage comparators that are designed to operate over a wide range of voltages. Operation from dual supplies also is possible as long as the difference between the two supplies is within 2 V to 36 V, and VCC is at least 1.5 V more positive than the input common-mode voltage. The outputs can be connected to other open-collector outputs.
The LM2903-Q1 and LM2903B-Q1 are qualified for the AEC-Q100 Grade 1 temperature range of -40°C to +125°C. The LM2903E-Q1 is Qualified for the Grade 0 extended temperature range of -40°C to +150°C.
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기술 자료
| 유형 | 직함 | 날짜 | ||
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | LM2903-Q1 and LM2903B-Q1 Automotive Dual Comparators datasheet (Rev. L) | PDF | HTML | 2023/08/14 |
| Application note | Application Design Guidelines for LM339, LM393, TL331 Family Comparators Including the New B-versions (Rev. E) | PDF | HTML | 2024/06/06 | |
| Functional safety information | LM2903-Q1 Functional Safety, FIT Rate, Failure Mode Distribution and Pin FMA | 2020/04/07 | ||
| E-book | The Signal e-book: A compendium of blog posts on op amp design topics | 2017/03/28 | ||
| Application note | Designing Overcurrent protection for TPL7407L Peripheral Driver | 2014/11/05 |
설계 및 개발
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증폭기 성능 개발 키트(PDK)는 일반적인 연산 증폭기(OP 앰프) 매개 변수를 테스트할 수 있는 평가 모듈(EVM) 키트입니다. 대부분의 연산 증폭기 및 콤퍼레이터와 호환됩니다. EVM 키트는 패키지 요구 사항에 맞는 여러 소켓형 부속 카드 옵션이 있는 메인 보드를 제공하여 엔지니어가 디바이스 성능을 신속하게 평가하고 확인할 수 있습니다.
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- D(SOIC-8 및 SOIC-14)
- PW(TSSOP-14)
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| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| SOIC (D) | 8 | Ultra Librarian |
| TSSOP (PW) | 8 | Ultra Librarian |
| VSSOP (DGK) | 8 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.