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TLV1H103-SEP

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푸시-풀 출력을 지원하는 방사능 내성 2.5ns 단일 채널 콤퍼레이터

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TLV1H103-SEP

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제품 상세 정보

Number of channels 1 Output type Push-Pull Propagation delay time (µs) 0.0025 Vs (max) (V) 5.5 Vs (min) (V) 2.4 Rating Space Features Adjustable Hysteresis, Latch, POR Iq per channel (typ) (mA) 5.7 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 7 Rail-to-rail In Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 5000 VICR (max) (V) 5.7 VICR (min) (V) -0.2
Number of channels 1 Output type Push-Pull Propagation delay time (µs) 0.0025 Vs (max) (V) 5.5 Vs (min) (V) 2.4 Rating Space Features Adjustable Hysteresis, Latch, POR Iq per channel (typ) (mA) 5.7 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 7 Rail-to-rail In Operating temperature range (°C) -55 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 5000 VICR (max) (V) 5.7 VICR (min) (V) -0.2
SOT-23 (DBV) 6 8.12 mm² 2.9 x 2.8

  • VID V62/22606-01XE

  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID)

    • TID Characterized to 30krad (Si)

    • ELDRS-Free to 30krad (Si)

    • RHA/RLAT to 30krad (Si)

  • Radiation - Single-Event Effects (SEE)

    • SEL Immune to LET = 43MeV·cm2/mg

    • SET Characterized to LET = 43MeV·cm2/mg

  • Space Enhanced Plastic

    • Controlled Baseline

    • One Assembly/Test Site

    • One Fabrication Site

    • Extended Product Life Cycle

    • Product Traceability

  • Low propagation delay: 2.5ns
  • Low overdrive dispersion: 700ps
  • High toggle frequency: 325MHz
  • Narrow pulse width detection capability: 1.5ns
  • Input common-mode range extends 200mV beyond both rails
  • Supply range: 2.4V to 5.5V
  • Adjustable hysteresis control
  • Output latch capability

  • VID V62/22606-01XE

  • Radiation - Total Ionizing Dose (TID)

    • TID Characterized to 30krad (Si)

    • ELDRS-Free to 30krad (Si)

    • RHA/RLAT to 30krad (Si)

  • Radiation - Single-Event Effects (SEE)

    • SEL Immune to LET = 43MeV·cm2/mg

    • SET Characterized to LET = 43MeV·cm2/mg

  • Space Enhanced Plastic

    • Controlled Baseline

    • One Assembly/Test Site

    • One Fabrication Site

    • Extended Product Life Cycle

    • Product Traceability

  • Low propagation delay: 2.5ns
  • Low overdrive dispersion: 700ps
  • High toggle frequency: 325MHz
  • Narrow pulse width detection capability: 1.5ns
  • Input common-mode range extends 200mV beyond both rails
  • Supply range: 2.4V to 5.5V
  • Adjustable hysteresis control
  • Output latch capability

The TLV1H103-SEP is a 325MHz, high speed comparator with rail-to-rail inputs and a propagation delay of 2.5ns. The combination of fast response and wide operating voltage range make the comparator an excellent choice for narrow signal pulse detection and data and clock recovery applications in radar imaging and communications payload systems.

The push-pull (single-ended) outputs of the TLV1H103-SEP simplify and save cost on board-to-board wiring for I/O interfaces while reducing power consumption when compared to alternative high-speed differential output comparators. In addition, the TLV1H103-SEP offers the features such as adjustable hysteresis control and output latch capability. The comparator can directly interface most prevailing digital controllers and IO expanders in the downstream.

The TLV1H103-SEP uses a high-speed complementary BiCMOS process and is available in a 6-pin, SOT-23 package.

The TLV1H103-SEP is a 325MHz, high speed comparator with rail-to-rail inputs and a propagation delay of 2.5ns. The combination of fast response and wide operating voltage range make the comparator an excellent choice for narrow signal pulse detection and data and clock recovery applications in radar imaging and communications payload systems.

The push-pull (single-ended) outputs of the TLV1H103-SEP simplify and save cost on board-to-board wiring for I/O interfaces while reducing power consumption when compared to alternative high-speed differential output comparators. In addition, the TLV1H103-SEP offers the features such as adjustable hysteresis control and output latch capability. The comparator can directly interface most prevailing digital controllers and IO expanders in the downstream.

The TLV1H103-SEP uses a high-speed complementary BiCMOS process and is available in a 6-pin, SOT-23 package.
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기술 자료

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유형 직함 날짜
* Data sheet TLV1H103-SEP Radiation Tolerant High-Speed Comparator with 2.5ns Propagation Delay datasheet PDF | HTML 2024/08/14
* VID TLV1H103-SEP VID V62/22606 2024/12/16
* Radiation & reliability report TLV1H103-SEP Radiation Tolerant High-Speed Comparator TID Report (Rev. B) 2024/08/14
* Radiation & reliability report TLV1H103-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 2024/08/12
* Radiation & reliability report TLV1H103-SEP Neutron Displacement Damage (NDD) Characterization Report 2024/04/29
* Radiation & reliability report TLV1H103-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report PDF | HTML 2024/04/26
Certificate HS-COMPARATOR-EVM EU Declaration of Conformity (DoC) 2024/04/08

설계 및 개발

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시뮬레이션 모델

TLV1H103-SEP PSpice Model

SNOM799.ZIP (269 KB) - PSpice Model
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시뮬레이션 모델

TLV1H103-SEP TINA-TI Model

SNOM798.ZIP (0 KB) - TINA-TI Spice Model
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시뮬레이션 툴

PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®

TI용 PSpice®는 아날로그 회로의 기능을 평가하는 데 사용되는 설계 및 시뮬레이션 환경입니다. 완전한 기능을 갖춘 이 설계 및 시뮬레이션 제품군은 Cadence®의 아날로그 분석 엔진을 사용합니다. 무료로 제공되는 TI용 PSpice에는 아날로그 및 전력 포트폴리오뿐 아니라 아날로그 행동 모델에 이르기까지 업계에서 가장 방대한 모델 라이브러리 중 하나가 포함되어 있습니다.

TI 설계 및 시뮬레이션 환경용 PSpice는 기본 제공 라이브러리를 이용해 복잡한 혼합 신호 설계를 시뮬레이션할 수 있습니다. 레이아웃 및 제작에 (...)
요청
시뮬레이션 툴

TINA-TI — SPICE 기반 아날로그 시뮬레이션 프로그램

TINA-TI provides all the conventional DC, transient and frequency domain analysis of SPICE and much more. TINA has extensive post-processing capability that allows you to format results the way you want them. Virtual instruments allow you to select input waveforms and probe circuit nodes voltages (...)
사용 설명서: PDF
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패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
SOT-23 (DBV) 6 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

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