TLV4H390-SEP
- VID
- V62/24636-01XE
- V62/24636-02XE
- Radiation - Total Ionizing Dose (TID)
- TID characterized to 30krad (Si)
- ELDRS-Free to 30krad (Si)
- RHA/RLAT to 30krad (Si)
- Radiation - Single-Event Effects (SEE)
- SEL Immune to LET = 43MeV·cm 2 /mg
- SET Characterized to LET = 43MeV·cm 2 /mg
- Space enhanced plastic
- Controlled baseline
- One assembly/test site
- One fabrication site
- Extended product life cycle
- Product traceability
- 1.65V to 5.5V supply range
- Precision input offset voltage 300µV
- Fault-tolerant inputs
- 100ns typical propagation delay
- Low quiescent current 25µA per channel
- Low input bias current 5pA
- Open-drain output option (TLV4H290-SEP)
- Push-pull output option (TLV4H390-SEP)
- Full –55°C to 125°C temperature range
- 2kV ESD protection
The TLV4H290-SEP and TLV4H390-SEP are quad channel comparators which offer low input offset voltage and an excellent speed-to-power combination with a propagation delay of 100ns. Operating voltage range of 1.65V to 5.5V with a quiescent supply current of 25µA per channel.
This device family includes fault tolerant inputs that allow voltage to be applied to the input pins even when there is no power supply applied to the comparator making them well-suited for applications where power supply sequencing is a challenge. Likewise, these comparators feature no output phase inversion with fault-tolerant inputs that can go up to 6V without damage.
The TLV4H290-SEP comparator has an open-drain output stage that can be pulled below or beyond the supply voltage, making the output appropriate for level translation. The TLV4H390-SEP comparator has a push-pull output stage capable of both sinking and sourcing current.
The TLV4H290-SEP and TLV4H390-SEP are available in a plastic 14-pin SOT-23 package with radiation tolerance up to 43MeV·cm2 /mg.
기술 자료
| 유형 | 직함 | 날짜 | ||
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | TLV4H290-SEP and TLV4H390-SEP Radiation-Tolerant High-Precision Quad Comparators in Space Enhanced Plastic datasheet (Rev. A) | PDF | HTML | 2024/12/13 |
| Application brief | Analog Front-End Design With Texas Instruments’ Tooling Landscape | PDF | HTML | 2022/03/07 |
설계 및 개발
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| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| SOT-23-THN (DYY) | 14 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.