TPD4EUSB30
- Supports USB 3.0 data rates (5 Gbps)
- IEC 61000-4-2 ESD protection (level 4 contact)
- IEC 61000-4-5 surge protection
- 5 A (8/20 µs)
- Low capacitance
- DRT: 0.7 pF (typical)
- DQA: 0.8 pF (typical)
- Dynamic resistance: 0.6 Ω (typical)
- Space-saving DRT, DQA packages
- Flow-through pin mapping
The TPD2EUSB30, TPD2EUSB30A, and TPD4EUSB30 are 2 and 4 channel Transient Voltage Suppressor (TVS) based Electrostatic Discharge (ESD) protection diode arrays. The TPDxEUSB30/A devices are rated to dissipate ESD strikes at the maximum level specified in the IEC 61000-4-2 international standard (Contact). These devices also offer 5 A (8/20 µs) peak pulse current ratings per IEC 61000-4-5 (Surge) specification.
The TPD2EUSB30A offers low 4.5-V DC break-down voltage. The low capacitance, low break-down voltage, and low dynamic resistance make the TPD2EUSB30A a superior protection device for high-speed differential IOs.
The TPD2EUSB30 and TPD2EUSB30A are offered in space saving DRT (1 mm × 1 mm) package. The TPD4EUSB30 is offered in space saving DQA (2.5 mm × 1.0 mm) package.
기술 자료
| 유형 | 직함 | 날짜 | ||
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | TPDxEUSB30 2-, 4-Channel ESD Protection for Super-Speed USB 3.0 Interface datasheet (Rev. G) | PDF | HTML | 2021/06/01 |
| User guide | Reading and Understanding an ESD Protection Data Sheet (Rev. A) | PDF | HTML | 2023/09/19 | |
| Application note | ESD Protection Layout Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2022/04/07 | |
| White paper | Designing USB for short-to-battery tolerance in automotive environments | 2016/02/10 | ||
| Analog Design Journal | Design Considerations for System-Level ESD Circuit Protection | 2012/09/25 |
설계 및 개발
추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.
ESDEVM — ESD 평가 모듈
| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| USON (DQA) | 10 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.