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Convertidores analógico-digitales (ADC)
ADC de alta velocidad (≥ 10 MSPS)

ADC34RF52

ACTIVO

ADC de muestreo de RF de cuatro canales, 14 bits, 1.5 GSPS y baja densidad espectral de ruido (NS

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ADC34RF52

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Detalles del producto

Sample rate (max) (Msps) 1500 Resolution (bps) 14 Number of input channels 4 Interface type JESD204B Analog input BW (MHz) 2300 Features High Dynamic Range, High Performance, Ultra High Speed Rating Catalog Peak-to-peak input voltage range (V) 1.1 Power consumption (typ) (mW) 2920 SNR (dB) 66.3 ENOB (bit) 10.4 SFDR (dB) 72 Operating temperature range (°C) -40 to 85 Input buffer No
Sample rate (max) (Msps) 1500 Resolution (bps) 14 Number of input channels 4 Interface type JESD204B Analog input BW (MHz) 2300 Features High Dynamic Range, High Performance, Ultra High Speed Rating Catalog Peak-to-peak input voltage range (V) 1.1 Power consumption (typ) (mW) 2920 SNR (dB) 66.3 ENOB (bit) 10.4 SFDR (dB) 72 Operating temperature range (°C) -40 to 85 Input buffer No
VQFNP (RTD) 64 81 mm² 9 x 9
  • 14-Bit, Quad channel 1.5-GSPS ADC
  • Noise spectral density:
    • -153 dBFS/Hz without averaging
    • -156 dBFS/Hz with 2x averaging
  • Single core (non-interleaved) ADC architecture
  • Aperture jitter: 50 fs
  • Low close-in residual phase noise:
    • -133 dBc/Hz at 10 kHz offset
  • Spectral performance (fIN = 900 MHz, -4 dBFS):
    • 2x internal averaging
    • SNR: 65.2 dBFS
    • SFDR HD2,3: 74 dBc
    • SFDR worst spur: 90 dBFS
  • Input fullscale: 1.0/1.1Vpp (1/1.8 dBm)
  • Full power input bandwidth (-3 dB): 1.6 GHz
  • JESD204B serial data interface
    • Maximum lane rate: 13 Gbps
    • Supports subclass 1 deterministic latency
  • Digital down-converters
    • Up to two DDC per ADC channel
    • Complex output: 4x to 128x decimation
    • 48-bit NCO phase coherent frequency hopping
    • Fast frequency hopping: < 1 µs
  • Power consumption: 0.73 W/channel (1x AVG)
  • Power supplies: 1.8 V, 1.2 V
  • 14-Bit, Quad channel 1.5-GSPS ADC
  • Noise spectral density:
    • -153 dBFS/Hz without averaging
    • -156 dBFS/Hz with 2x averaging
  • Single core (non-interleaved) ADC architecture
  • Aperture jitter: 50 fs
  • Low close-in residual phase noise:
    • -133 dBc/Hz at 10 kHz offset
  • Spectral performance (fIN = 900 MHz, -4 dBFS):
    • 2x internal averaging
    • SNR: 65.2 dBFS
    • SFDR HD2,3: 74 dBc
    • SFDR worst spur: 90 dBFS
  • Input fullscale: 1.0/1.1Vpp (1/1.8 dBm)
  • Full power input bandwidth (-3 dB): 1.6 GHz
  • JESD204B serial data interface
    • Maximum lane rate: 13 Gbps
    • Supports subclass 1 deterministic latency
  • Digital down-converters
    • Up to two DDC per ADC channel
    • Complex output: 4x to 128x decimation
    • 48-bit NCO phase coherent frequency hopping
    • Fast frequency hopping: < 1 µs
  • Power consumption: 0.73 W/channel (1x AVG)
  • Power supplies: 1.8 V, 1.2 V

The ADC34RF52 is a single core 14-bit, 1.5-GSPS, quad channel analog to digital converter (ADC) that supports RF sampling with input frequencies up to 2.5 GHz. The design maximizes signal-to-noise ratio (SNR) and delivers a noise spectral density of -153 dBFS/Hz. Using additional internal ADCs along with on-chip signal averaging, the noise density improves to -156 dBFS/Hz.

Each ADC channel can be connected to a dual-band digital down-converter (DDC) using a 48-bit NCO which supports phase coherent frequency hopping. Using the GPIO pins for NCO frequency control, frequency hopping can be achieved in less than 1 µs.

The ADC34RF52 supports the JESD204B serial data interface with subclass 1 deterministic latency using data rates up to 13 Gbps. There are only 2 serdes lanes per ADC channel.

The power efficient ADC architecture consumes 0.73 W/ch at 1.5-GSPS and provides power scaling with lower sampling rates.

The ADC34RF52 is a single core 14-bit, 1.5-GSPS, quad channel analog to digital converter (ADC) that supports RF sampling with input frequencies up to 2.5 GHz. The design maximizes signal-to-noise ratio (SNR) and delivers a noise spectral density of -153 dBFS/Hz. Using additional internal ADCs along with on-chip signal averaging, the noise density improves to -156 dBFS/Hz.

Each ADC channel can be connected to a dual-band digital down-converter (DDC) using a 48-bit NCO which supports phase coherent frequency hopping. Using the GPIO pins for NCO frequency control, frequency hopping can be achieved in less than 1 µs.

The ADC34RF52 supports the JESD204B serial data interface with subclass 1 deterministic latency using data rates up to 13 Gbps. There are only 2 serdes lanes per ADC channel.

The power efficient ADC architecture consumes 0.73 W/ch at 1.5-GSPS and provides power scaling with lower sampling rates.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet ADC34RF52 Quad Channel 14-bit 1.5-GSPS RF Sampling Data Converter datasheet PDF | HTML 14 ene 2022
Application brief Noise Spectral Density: A Better Way (Rev. A) PDF | HTML 18 may 2024
Application note Improve SFDR Using Calibration in High-Speed ADCs PDF | HTML 19 jun 2023

Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

ADC32RF55EVM — Módulo de evaluación ADC32RF55 para ADC de muestreo de RF de 14 bits y 3 GSPS de doble canal con baj

El módulo de evaluación (EVM) ADC32RF55 es una plataforma para demostrar el rendimiento del convertidor de señal analógica a digital (ADC) de interfaz JESD204B de alta velocidad ADC32RF55. La regulación de tensión integrada, la solución de sincronización (LMK04832), las entradas analógicas (...)

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PSpice® for TI is a design and simulation environment that helps evaluate functionality of analog circuits. This full-featured, design and simulation suite uses an analog analysis engine from Cadence®. Available at no cost, PSpice for TI includes one of the largest model libraries in the (...)
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Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

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