TPS386000-Q1
- Qualified for Automotive Applications
- AEC Q100 Test Guidance With the Following
Results:- Device Temperature Grade 1: –40°C to 125°C
Ambient Operating Temperature Range - Device HBM ESD Classification Level H2
- Device CDM ESD Classification Level C4B
- Device Temperature Grade 1: –40°C to 125°C
- Four Complete SVS Modules on one Silicon
Platform - Programmable Delay Time: 1.4 ms to 10 s
- Very Low Quiescent Current: 12 µA Typical
- Threshold Accuracy: 0.25% Typical
- SVS-1: Manual Reset (MR) Input
- SVS-1, 2, 3: Adjustable Threshold Down to 0.4 V
- SVS-4:
- Adjustable Threshold at Any Positive or
Negative Voltage with VREF (1.2 V) - Window Comparator
- Adjustable Threshold at Any Positive or
- Watchdog Timer with Dedicated Output
- Well-Controlled RESETn Output During Power-Up
- Open-Drain RESETn and WDO
- Package: 4-mm × 4-mm, 20-pin VQFN
The TPS386000-Q1 family of voltage supervisors can monitor four power rails that are greater than 0.4 V and one power rail less than 0.4 V (including negative voltage) with a 0.25% (typical) threshold accuracy. Each of the four supervisory circuits (SVS-n) assert a RESETn or RESETn output signal when the SENSEm input voltage drops below the programmed threshold. With external resistors, the threshold of each SVS-n can be programmed (where n = 1, 2, 3, 4 and m = 1, 2, 3, 4L, 4H).
Each SVS-n has a programmable delay before releasing RESETn or RESETn. The delay time can be set from 1.4 ms to 10 s through the CTn pin connection. Only SVS-1 has an active-low manual reset (MR) input; a logic-low input to MR asserts RESET1 or RESET1.
SVS-4 monitors the threshold window using two comparators. The extra comparator can be configured as a fifth SVS to monitor negative voltage with voltage reference output VREF.
The TPS386000-Q1 device has a very low quiescent current of 12 µA (typical) and is available in a small, 4-mm × 4-mm, VQFN-20 package.
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技術資料
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e-Book(PDF) | Voltage Supervisor and Reset ICs: Tips, Tricks and Basics | 2019年 6月 28日 | ||||
セレクション・ガイド | Automotive Supervisor and Reset IC Selection Guide | 2016年 2月 22日 | ||||
アプリケーション・ノート | TPS386000-Q1 Pin FMEA | 2013年 12月 5日 |
設計および開発
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購入と品質
- RoHS
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- デバイスのマーキング
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- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点